Gebraucht HITACHI S-9380 II #9251047 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer Elektronenkanone aus Filamenten und Mikrosäulen, die elektrisch parallel geschaltet sind. Dieses SEM ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die eine bessere und zuverlässigere Elektronenquelle liefert. Das FEG verfügt über eine kleine Beleuchtungsfläche, kurze Säulenlänge und extrem geringe Elektronenstrahl-Divergenz für hervorragende Auflösung und hohen Durchsatz. HITACHI S9380 II ist in der Lage, Proben von bis zu 20 mm Durchmesser und mit seiner großen Probenkammer zu messen, ermöglicht ein einfaches Be- und Entladen von Proben in verschiedenen Positionen. Bei einer maximalen Vergrößerung von bis zu 3,000,000X können Proben beliebiger Orientierung gescannt werden. Es hat einen großen Port und einen kleinen Port für SE/BSE und Ionenstrahl. Darüber hinaus verfügt S-9380-II über eine schwingungsarme Probenstufe und eine hochstabile digitale Steuereinrichtung zur genauen und wiederholbaren Steuerung der Probenstufenbewegungen. S-9380 II erfordert mit seiner neu entwickelten Steuerungssoftware für die automatische Einstellfunktion der roda-Wellenform eine geringere Probenpflege im Betrieb, um eine korrekte Ausrichtung des Elektronenstrahls beizubehalten. Neben den automatischen Funktionen ermöglicht die mit Diamant-Carbon-Folie (COPI) beschichtete Feldemissionspistole eine außergewöhnlich hohe Auflösung bei unterschiedlichen Beschleunigungsspannungen. Die Vergrößerungsfähigkeiten und die fortschrittliche Elektronenoptik von HITACHI S 9380 II geben Forschern die Möglichkeit, eine breite Palette von Proben in einem einzigen System zu messen. S 9380 II ist nicht nur in der Lage, Details bis zum Nanometerspiegel zu erfassen, sondern bietet auch die Möglichkeit, die Oberfläche mit einer hohen Genauigkeit zu messen. Es verfügt über hervorragende Oberflächenabbildungsfähigkeiten, die durch eine hochpräzise Ausrichtung des Elektronenstrahls ermöglicht werden, und fokussiert sich auf die Oberfläche, um Bildkarten mit Nanometer-Auflösung zu erstellen. S9380 II verfügt auch über eine kleine X/Y-Bewegungseinheit, die es erlaubt, ungleichmäßige Proben unter Beibehaltung hoher Auflösung zu scannen. Dies bedeutet, dass es ein unglaublich nützliches Werkzeug für Anwendungen wie Fehleranalyse und Mikrostrukturuntersuchung ist. Schließlich ist diese Maschine kompatibel mit selektiver Flächenelektronenbestrahlung, die keinen Abbau in die Umgebung der Probe verursacht, um Modifikation auf die Probe anzuwenden. Abschließend ist HITACHI S-9380-II ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop mit einer FEG-Elektronenkanone, das detaillierte Nanometer-Messungen an einer Vielzahl von Proben durchführen kann. Seine fortschrittliche Bildgebung und Elektronenoptik bieten Forschern die Möglichkeit, neben der Messung und Kartierung der Oberfläche ihrer Proben auch Fehler und strukturelle Merkmale an ihren Proben genau zu diagnostizieren. Die detaillierte Untersuchung und Modifizierung der Proben wird durch das X/Y-Werkzeug und die selektive Bereichselektronenbestrahlung ermöglicht, wodurch die Fähigkeit von HITACHI S-9380 II weiter erweitert wird.