Gebraucht HITACHI S-9380 II #9251638 zu verkaufen
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ID: 9251638
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2008
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12"
Main body:
HV Controller
COL-CN2
Lens PS
Stage controller
EVAC Controller
TMP Controller 1, 2 and 3
Laser
Motor driver X and Y
Halogen lamp
Gun head
Ion pump battery
Utility indicator
ST-Sensor PCB
Solanoid assy
COL-DCPS
Ion pump power supply
MHV PCB
TMP 1, 2 and 3
VME Rack:
ECPU550
ECDR100
ECDE100
ECDW100
EPIP200
C882
EOIF
SIO / DIST
PS DISP
ECDI100
ERSP100
PC:
Monitor
HP PC
(2) Hard Disk Drives (HDD)
SSD SC2BP240
Power supply unit:
UPS
Main unit
IP Power supply unit
Transformer
EFEM:
Loadport right: TAS300
Loadport left: TAS300
Robot
Robot controller
Robot aligner
Robot arm
2008 vintage.
HITACHI S-9380 II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur atomweisen Analyse der Oberfläche eines Probenatoms verwendet wird. Es ist eine fortschrittliche Version der elektronischen Mikroskopie der häufig verwendeten SEMs mit einer Vielzahl von Funktionen, die eine verbesserte Bildqualität und -analyse ermöglichen. Es ist eine ausgezeichnete Wahl für verschiedene Oberflächenanalyseaufgaben wie Untersuchungen der Morphologie, Porosität, elementare Zusammensetzung und chemische Oberflächenmodifizierung. Diese erweiterte Version des SEM ist in der Lage, qualitativ hochwertige Bilder von Proben bei hohen Vergrößerungen (bis zu 400.000 ×) zu erhalten. Dies kann durch eine Vielzahl von Verfahren erreicht werden, einschließlich Sekundärelektronenbildgebung, Abbildung von rückgestreuten Elektronen und SEM-Bildgebung unter Verwendung eines Bereichs von energiedispersiven Röntgendetektoren. Die vielseitigen bildgebenden Fähigkeiten dieser Einheit machen sie für technische, biologische und materialwissenschaftliche Anwendungen von unschätzbarem Wert. In Bezug auf die Bildauflösung bietet HITACHI S9380 II eine hervorragende Leistung (eine Bildauflösung von bis zu 0,5 nm ist erreichbar). Dies wird durch eine signifikante Verbesserung der Elektronenoptik des SEM ermöglicht; wie größere Feldlinse, eine Elektronenpistole mit verbesserter Helligkeit und eine neu entworfene Objektivlinse. Darüber hinaus ermöglicht eine Dual-Color-Pistole Benutzern, Proben mit höherem Kontrast und Auflösung im Vergleich zu einer einzigen Farbpistole zu beobachten. Darüber hinaus ist die Kammer der S-9380-II so ausgelegt, dass eine Elektronenstrahlverunreinigung der zu untersuchenden Probe minimiert wird. Die automatisierten Kammerreinigungsmerkmale ermöglichen eine effiziente Entfernung von Fremdpartikeln aus der Kammer vor der Analyse. Dies sorgt für eine bessere Bildgenauigkeit und reduziert Ausfallzeiten. S-9380 II umfasst auch erweiterte Softwarepakete für die Probenvorbereitung und Bildmanipulation, so dass es eine ideale Wahl für Forschung und industrielle Anwendungen ist. Das Tool zur Verwaltung von Live-Bildern, Particulate Analyzer, reduziert den Zeitaufwand für die Analyse und Bearbeitung großer Datensätze und Bilder. Die Co-Lokalisierungsfunktionen von TEM-SEM ermöglichen es Anwendern, sowohl mikroskopische Techniken für eine einzige Analyse zu verwenden als auch die Struktur einer Probe in drei Dimensionen und im gesamten Farbspektrum zu untersuchen. Insgesamt ist HITACHI S 9380 II eine fortschrittliche Version des SEM mit einer Reihe von Funktionen, die eine verbesserte Bildqualität und -analyse ermöglichen sollen. Seine vielseitigen Bildgebungsfunktionen, seine ausgezeichnete Bildauflösung, seine automatisierten Kammerreinigungsfunktionen und seine erweiterten Softwarepakete passen zu einer Vielzahl von Anwendungen in verschiedenen Bereichen.
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