Gebraucht HITACHI S-9380 II #9251638 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II
ID: 9251638
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2008
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12" Main body: HV Controller COL-CN2 Lens PS Stage controller EVAC Controller TMP Controller 1, 2 and 3 Laser Motor driver X and Y Halogen lamp Gun head Ion pump battery Utility indicator ST-Sensor PCB Solanoid assy COL-DCPS Ion pump power supply MHV PCB TMP 1, 2 and 3 VME Rack: ECPU550 ECDR100 ECDE100 ECDW100 EPIP200 C882 EOIF SIO / DIST PS DISP ECDI100 ERSP100 PC: Monitor HP PC (2) Hard Disk Drives (HDD) SSD SC2BP240 Power supply unit: UPS Main unit IP Power supply unit Transformer EFEM: Loadport right: TAS300 Loadport left: TAS300 Robot Robot controller Robot aligner Robot arm 2008 vintage.
HITACHI S-9380 II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur atomweisen Analyse der Oberfläche eines Probenatoms verwendet wird. Es ist eine fortschrittliche Version der elektronischen Mikroskopie der häufig verwendeten SEMs mit einer Vielzahl von Funktionen, die eine verbesserte Bildqualität und -analyse ermöglichen. Es ist eine ausgezeichnete Wahl für verschiedene Oberflächenanalyseaufgaben wie Untersuchungen der Morphologie, Porosität, elementare Zusammensetzung und chemische Oberflächenmodifizierung. Diese erweiterte Version des SEM ist in der Lage, qualitativ hochwertige Bilder von Proben bei hohen Vergrößerungen (bis zu 400.000 ×) zu erhalten. Dies kann durch eine Vielzahl von Verfahren erreicht werden, einschließlich Sekundärelektronenbildgebung, Abbildung von rückgestreuten Elektronen und SEM-Bildgebung unter Verwendung eines Bereichs von energiedispersiven Röntgendetektoren. Die vielseitigen bildgebenden Fähigkeiten dieser Einheit machen sie für technische, biologische und materialwissenschaftliche Anwendungen von unschätzbarem Wert. In Bezug auf die Bildauflösung bietet HITACHI S9380 II eine hervorragende Leistung (eine Bildauflösung von bis zu 0,5 nm ist erreichbar). Dies wird durch eine signifikante Verbesserung der Elektronenoptik des SEM ermöglicht; wie größere Feldlinse, eine Elektronenpistole mit verbesserter Helligkeit und eine neu entworfene Objektivlinse. Darüber hinaus ermöglicht eine Dual-Color-Pistole Benutzern, Proben mit höherem Kontrast und Auflösung im Vergleich zu einer einzigen Farbpistole zu beobachten. Darüber hinaus ist die Kammer der S-9380-II so ausgelegt, dass eine Elektronenstrahlverunreinigung der zu untersuchenden Probe minimiert wird. Die automatisierten Kammerreinigungsmerkmale ermöglichen eine effiziente Entfernung von Fremdpartikeln aus der Kammer vor der Analyse. Dies sorgt für eine bessere Bildgenauigkeit und reduziert Ausfallzeiten. S-9380 II umfasst auch erweiterte Softwarepakete für die Probenvorbereitung und Bildmanipulation, so dass es eine ideale Wahl für Forschung und industrielle Anwendungen ist. Das Tool zur Verwaltung von Live-Bildern, Particulate Analyzer, reduziert den Zeitaufwand für die Analyse und Bearbeitung großer Datensätze und Bilder. Die Co-Lokalisierungsfunktionen von TEM-SEM ermöglichen es Anwendern, sowohl mikroskopische Techniken für eine einzige Analyse zu verwenden als auch die Struktur einer Probe in drei Dimensionen und im gesamten Farbspektrum zu untersuchen. Insgesamt ist HITACHI S 9380 II eine fortschrittliche Version des SEM mit einer Reihe von Funktionen, die eine verbesserte Bildqualität und -analyse ermöglichen sollen. Seine vielseitigen Bildgebungsfunktionen, seine ausgezeichnete Bildauflösung, seine automatisierten Kammerreinigungsfunktionen und seine erweiterten Softwarepakete passen zu einer Vielzahl von Anwendungen in verschiedenen Bereichen.
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