Gebraucht HITACHI S-9380 II #9251642 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II
ID: 9251642
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2012
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12" Main body: HV Controller COL-CN2 Lens PS Stage controller EVAC Controller TMP Controller 1, 2 and 3 Laser Motor driver X and Y Halogen lamp Gun head Ion pump battery Utility indicator ST-Sensor PCB Solanoid assy COL-DCPS Ion pump power supply MHV PCB TMP 1, 2 and 3 VME Rack: ECPU550 ECDR100 ECDE100 ECDW100 EPIP200 C882 EOIF SIO / DIST PS DISP ECDI100 FA / I-O PC: Monitor HP PC Hard Disk Drives (HDD) Power supply unit: UPS Main unit IP Power supply unit Transformer EFEM: Loadport right: TAS300 Loadport left: TAS300 Robot Robot controller Robot aligner Robot arm 2012 vintage.
Das HITACHI S-9380 II Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsstarkes Forschungswerkzeug zur Bildgebung und Analyse von Proben im nanoskaligen Detail. Dieses Spitzenmodell verfügt über eine leistungsstarke Feldemissionselektronenquelle, eine hochauflösende Digitalkamera und eine intuitive Benutzeroberfläche zur Erzeugung atemberaubender Photomikrographen, 3D-Bilder und Analysen von Nanostrukturen. HITACHI S9380 II verfügt über eine leistungsstarke Feldemissionselektronenquelle mit einer thermisch stabilisierten erhitzten Elektronenkanone, die Elektronenstrahlen von bis zu 20kV erzeugen kann. Diese Hochspannung ermöglicht eine hochauflösende Abbildung mit einer Auflösung von bis zu 1,2 nm. S-9380-II verwendet auch ein einzigartiges variables Strahlstrommerkmal, das die Steuerung des Elektronenstroms ermöglicht, um Bilder und Analysen für Proben unterschiedlicher Größe zu optimieren. HITACHI S 9380 II ist mit einer hochauflösenden Digitalkamera ausgestattet, die klare, detaillierte Abbildungsergebnisse mit einer maximalen Auflösung von 12MP ermöglicht. Diese Digitalkamera ermöglicht auch den Einsatz von 3D-Bildrekonstruktionstechnologie, die die Erstellung dreidimensionaler Modelle aus Oberflächendaten ermöglicht. S-9380 II verfügt auch über eine intuitive Benutzeroberfläche, so dass es für Forscher aller Erfahrungsstufen einfach zu bedienen ist. Die Benutzeroberfläche bietet eine Vielzahl von Optionen zur Analyse von Proben, einschließlich elementarer Kartierung, topografischer Studien und 3D-Bildrekonstruktion. Der Benutzer kann auch Bilder in verschiedene Software exportieren, um weitere Studien und Manipulationen durchzuführen. S 9380 II ist eine ideale Wahl für Forschungslabore, die fortschrittliche Rasterelektronenmikroskopie-Technologien benötigen. Mit seiner leistungsstarken Feldemissionselektronenquelle, seinen hochauflösenden Bildgebungsfähigkeiten und seiner intuitiven Benutzeroberfläche ist es ein perfektes Werkzeug für Nanostrukturanalysen und überlegene bildgebende Ergebnisse.
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