Gebraucht HITACHI S-9380 II #9251643 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebung und Charakterisierung in der Materialwissenschaft, Halbleiterfehleranalyse und biologischen Anwendungen. HITACHI S9380 II verfügt über eine fortschrittliche elektronenoptische Ausrüstung und überlegene Leistung mit minimaler Verschmutzung und mechanisch stabilen Elektronenstrahl- und Analyseeinrichtungen, um hervorragende analytische Ergebnisse zu erzielen. S-9380-II verwendet eine Schottky-Feldemissionsquelle und ein Vierfach-Ablenksystem, um im Vergleich zu anderen SEM-Systemen eine verbesserte Betriebsleistung und eine verbesserte Auflösung zu gewährleisten. Das Instrument verfügt über einen großen 190mm in der Linse ergonomischen X-Y-Probenmanipulator und eine Analysekammer, die mit einer automatisierten Feinausrichtung und Fokus-Einheit ausgestattet ist, die es ermöglicht, mit einer Vielzahl von Proben zu arbeiten. Mit der optionalen Autoloader-Funktion können Anwender die Probenpositionierung automatisieren. Diese Maschine verfügt auch über eine gekühlte Probenkammer, ein Luftschloss und ein automatisches Verschmutzungssteuerungswerkzeug, um ein sauberes Sichtfeld zu bieten und die Umweltverschmutzung zu minimieren. S9380 II verfügt über ein hohes Leistungsniveau, einschließlich einer sekundären Elektronenbildauflösung von 0,6 nm in Luft und 0,25 nm im Vakuum, mit seinem SE-Detektor und einer Auflösung von 2k x 2 k Pixeln in der rückgestreuten Elektronenbildgebung (BSE). Die Anlage verfügt außerdem über vier Spektrometer, zwei energiegefilterte Bildgebungssysteme (EFI und FIM) und ein Kathodolumineszenzmapping-Modell (CALM). EFI ermöglicht die gleichzeitige Abbildung und Überwachung von Emissionsenergiepeaks aus verschiedenen Elementen; FIM ermöglicht die Überwachung von Elektronenkanalkontrast und Zusammensetzung; und CALM eine Submikron-Auflösung-Abbildung eines lumineszierenden Bildes einer Probe bereitstellt. Das Gerät weist ferner eine automatisierte Betriebssteuereinrichtung mit einem automatisierten Ausrichtsystem, einer Ausrichtungsbewertungseinheit und einer automatisierten Stufennavigationsmaschine auf. Dies gewährleistet eine genaue und wiederholbare Bedienung, so dass Benutzer die Probenposition genauer steuern und den Scanvorgang beschleunigen können. Darüber hinaus ist S 9380 II mit einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, die Zugriff auf Mikroskopparameter bietet, Probenebenen überwacht und Fernbefehle ausgibt. Abschließend ist HITACHI S-9380-II ein Rasterelektronenmikroskop, das eine überlegene Bildgebungs- und Charakterisierungsleistung bietet. Es verfügt über fortschrittliche elektronenoptische Komponenten, ergonomische Probenmanipulation, eine breite Palette von Analysefunktionen und ein automatisiertes Operationssteuerungswerkzeug, das einen reibungslosen Abtastvorgang gewährleistet.