Gebraucht HITACHI S-9380 II #9251771 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für den Einsatz in einer Vielzahl von Materialanalyseanwendungen entwickelt wurde. Seine Funktionen umfassen ein hochauflösendes, hochleistungsfähiges Bild mit einer Reihe von analytischen Funktionen. HITACHI S9380 II verwendet eine Thermionic Field Emission Gun (FEG), um einen Strahl von hochenergetischen Elektronen zu emittieren. Dies ermöglicht die Sammlung höherauflösender Bilder im Vergleich zu herkömmlichen SEMs. Es verfügt auch über ein Sekundärelektron und rückgestreuten Elektronendetektor, so dass Benutzer eine Vielzahl von elementaren und Zusammensetzung Analyse auf Proben zu machen. Das Mikroskop verfügt über eine einzigartige „Insight 3D“ -Funktion, mit der Benutzer Proben in drei Dimensionen scannen können. Dies ermöglicht die direkte Messung von relativen Höhen, Topographie und elektromechanischen Oberflächeneigenschaften bis hin zum Nanoskala. S-9380-II umfasst auch automatisierte Software, die eine Reihe von erweiterten Bildgebungsfunktionen ermöglicht. Dazu gehören: Bildnaht, Linienprofilanalyse und 3D-Bildrekonstruktion. Auf der mechanischen Seite verfügt HITACHI S 9380 II über eine große Kammer mit einem Hochvakuum-Design, das ein System von Pumpen und Ventilen verwendet. Dies ermöglicht einen stabilen Betrieb und schnelle Probenerfassung und Bildgebung. Darüber hinaus kann das Mikroskop mit Temperaturen von -20 ° C bis + 200 ° C fertig werden, was eine breite Palette von Probenvorbereitungsverfahren ermöglicht. S 9380 II verfügt über ein leistungsstarkes, aber benutzerfreundliches „Focus Beam Control System“, das es Anwendern ermöglicht, den Strahl des Mikroskops genau auf die Probe zu fokussieren. Das einfach zu bedienende Touchpanel-Display und die vom Benutzer konfigurierbaren Workflows machen die Maschine ideal für Anfänger und erfahrene Mikroskopiker. Abschließend ist HITACHI S-9380-II ein hochleistungsfähiges und benutzerfreundliches Rasterelektronenmikroskop, das eine breite Palette fortschrittlicher bildgebender und analytischer Funktionen bietet. Seine Eigenschaften machen es zu einem idealen Werkzeug für Forscher, die Materialien bis in die Nanoskala erforschen und analysieren möchten.