Gebraucht HITACHI S-9380 II #9269824 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das es Forschern ermöglicht, die nano- und mikroskalierten Eigenschaften von Proben mit hoher Auflösung und Empfindlichkeit zu erforschen. Dieses SEM kombiniert analytische Fähigkeiten mit einem hohen Automatisierungsgrad, um die Bildaufnahme und -analyse zu optimieren. HITACHI S9380 II verwendet eine CF-Pistole (Cold Field Emission), um hochauflösende Bilder von nanoskaligen Funktionen zu erzeugen. Es ist in der Lage, Proben bis zu 1000.000x zu vergrößern, mit der Fähigkeit, sehr kleine Merkmale wie einzelne Atome oder Moleküle zu messen. Die hochauflösenden Bilder werden durch die Präzision der Elektronenkanone, die einen Elektronenstrahl mit einer Größe von 1,2 nm erzeugen kann, und die Stabilität der innerhalb des Instruments erreichten Bildbedingungen ermöglicht. Das SEM ist mit einem bildgebenden Gerät mit reduziertem Druck ausgestattet, das Verunreinigungen durch Gasmoleküle minimiert, was ideal ist, um empfindliche Proben wie Proteine oder organische Moleküle zu erforschen. Zusätzlich ist sie mit einer automatisierten Probenstufe ausgestattet, die ein Kippen der Probe zur Beobachtung mehrerer Facetten der Probe ermöglicht. Die automatisierte Probenstufe und das Abbildungssystem von S-9380-II können so programmiert werden, dass sie die Probe scannen und Daten erfassen, sodass die Forscher hochauflösende Bilder über große Bereiche aufnehmen können. Die in der Einheit enthaltene Software ermöglicht es Benutzern, aus den mit dem automatisierten Scan gesammelten Daten 3D-virtuelle Bilder der Probe zu erzeugen. HITACHI S-9380-II umfasst auch eine Reihe von analytischen Fähigkeiten, wie EDX (energy dispersive Röntgenspektroskopie) und CL (cathodoluminescence), die es Forschern ermöglichen, die elementare Zusammensetzung der Probe aus dem SEM zu identifizieren und zu quantifizieren. Zusätzlich zu seinen bildgebenden und analytischen Fähigkeiten ist S-9380 II mit Software-Schnittstellen ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, den Betrieb der Maschine einfach zu steuern und erfasste Daten zur weiteren Analyse an externe Systeme zu übertragen. Insgesamt ist S 9380 II ein leistungsstarkes und fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das den Anforderungen von Forschern gerecht wird, die die mikro- und nanoskaligen Eigenschaften von Proben erforschen. Mit seinen hochauflösenden Bildgebungsfunktionen, dem Einsatz von automatisiertem Scannen und integrierten Analysesystemen ist HITACHI S 9380 II ein ideales Werkzeug zur Erkundung der nanoskaligen Eigenschaften von Proben.