Gebraucht HITACHI S-9380 II #9273525 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II
ID: 9273525
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2005
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12" (3) Ports (TDK TAS 300) TAZMO (Robot and aligner) FA-PC 2005 vintage.
HITACHI S-9380 II ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das entworfen wurde, um Nahaufnahmen von Oberflächen durch Abtasten der Oberfläche mit einem fokussierten Elektronenstrahl zu machen. Es hat eine Beschleunigungsspannung bis 30 kV und eine Auflösung von 0,9 nm bei 15 kV. Die flexible E-Beam Power Control ermöglicht den Einsatz des Mikroskops für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich der analytischen Elektronentomographie. Das Mikroskop ist mit einer LaB6 (Lanthanum Hexaborde) Elektronenkanone ausgestattet, die einen Elektronenstrahl mit hoher Stromdichte zur präzisen Oberflächenbildgebung emittiert. Diese verbesserte Leistung macht es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, von der Oberflächenbildgebung bis zur Nanostrukturanalyse. HITACHI S9380 II verfügt auch über eine Vielzahl von Probenhandhabungswerkzeugen, darunter ein Probentransfersystem, eine Probendrehstufe und eine Probenheizstufe. Es ist ein vielseitiges, hochauflösendes SEM, das sich ideal für High-End-Anwendungen in der analytischen Bildgebung und Forschung eignet. Das Mikroskop bietet eine Vielzahl von Detektoren zur Aufnahme des Bildes, die je nach den Anforderungen des Benutzers ausgewählt werden können. Dazu gehören ein ständig gekühlter Sekundärelektronendetektor (SED), ein ständig gekühlter Backscatter Electron Detector (BES) und ein ständig geladener Differentialimpulsladungsdetektor (DCPD). Es verfügt auch über automatisierte Funktionen, die den Betrieb erleichtern, einschließlich eines neuartigen AFSA-Systems (Auto Focus and Sample Alignment), einer automatischen Strahlzentrierung und einer Bildnaht. Dieses System ermöglicht es Benutzern, wiederholbare Scans mühelos von Probe zu Probe zu nehmen. Mit seiner Kombination aus hoher Auflösung, hohem Durchsatz und vielseitigen Probenmanipulationswerkzeugen kann S-9380-II für die Bildgebung im Nanometermaßstab und die High-End-Analysetomographie eingesetzt werden. Seine überlegene Leistung und Vielseitigkeit machen es für eine breite Palette von Forschungsanwendungen geeignet.
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