Gebraucht HITACHI S-9380 Type II #9235075 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S-9380 Type II (SEM) ist ein erstklassiges Gerät zur Bildgebung und Analyse verschiedener Materialien. Dieses SEM bietet mit seiner fortschrittlichen Strahltechnologie und Bildverarbeitungsplattform hochqualitative Bildverarbeitungsfähigkeiten. Das System ist in der Lage, eine höhere Auflösung mit weniger Bedarf an Probenvorbereitung zu erhalten. Das S-9380 ist mit einer Hochleistungs-Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet. Die FEG emittiert einen viel kleineren Elektronenstrahl als herkömmliche Thermionsysteme, was zu einem engeren Strahldurchmesser führt, der eine höhere Vergrößerung und Auflösung ermöglichen kann. Diese kleinere Strahlengröße erfordert im Vergleich zu thermionischen Systemen weniger Probenvorbereitung und ermöglicht die Abbildung eines breiteren Materialspektrums. Die S-9380 nutzt eine stetig steigende stabile Vakuumumgebung. Mit der proprietären Vakuumtechnologie kann das Gerät einen höheren Vakuumdruck bis zu 2 x 10-4 Torr erreichen, was zu einer verbesserten Bildqualität und Stabilität führt. Zusätzlich wird der Beginn der Sekundärelektronenemission stark erhöht, was zu einer erhöhten Sichtbarkeit der zu untersuchenden Materialoberfläche führt. Das S-9380 ist speziell für die Abbildung von Materialien im Nanometerbereich ausgelegt. Seine hochauflösende Bildgebungsfähigkeit ist einer der größten Vorteile der Maschine. Die neueste Version verfügt über die höchste Spezifikation Feldemission Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) Technologie, um Auflösungen bis zu 0,7 nm zu erreichen. Das Tool ist flexibel und anpassbar, so dass der Benutzer praktisch jede Art von spezialisierten Bildgebungs- oder Analysetechniken entwickeln und verwenden kann. Seine Vielfalt an Zubehör ermöglicht die dynamische Kombination von Techniken, um die Anwendung anzupassen. Das S-9380 ist auf Langlebigkeit und Zuverlässigkeit in der Laborumgebung ausgelegt. Die robuste Konstruktion und das zuverlässige Computermodell bieten eine zuverlässige Lösung für jede SEM-Anwendung. S-9380 Rasterelektronenmikroskop Typ II ist eine ausgezeichnete bildgebende Lösung für verschiedenste Materialien. Die fortschrittliche FEG-Elektronenstrahltechnologie, das stabile Vakuum und die fortschrittliche Auflösung machen es zu einem leistungsstarken Werkzeug zur Analyse von Proben. Es kann eine Vielzahl von Bedürfnissen in verschiedenen Branchen bedienen, von der Halbleiterherstellung bis zu biologischen Wissenschaften.