Gebraucht HITACHI S-9380 Type II #9236749 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S-9380 Type II ist ein fortschrittliches Laborinstrument, das die Struktur und Zusammensetzung einer Vielzahl von Materialien inspiziert. Es erzeugt Bilder, indem es einen fein fokussierten Elektronenstrahl über eine Probenoberfläche abtastet und das aus Sekundärelektronen resultierende Signal kontinuierlich detektiert. Diese Art von Mikroskop ermöglicht Vergrößerungen bis zu 500.000 x und Auflösungen bis zu 0,8 nm in seitlicher Richtung und 0,3 nm in vertikaler Richtung, so dass es ideal für Anwendungen, die Analyse auf dem Nanoskala. Das Mikroskop umfasst eine Umweltkammer, die eine Vielzahl von Umgebungsbedingungen auf die Probe aufbringen kann, einschließlich Temperaturen von -100C bis 400C, Dampfdrücken bis zu 0,1 Pa und gelösten Gasen wie Argon und Helium. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern, eine Reihe von Experimenten unter genau kontrollierten Bedingungen durchzuführen, die sonst nicht durchgeführt werden könnten, wie beispielsweise die Beobachtung der dynamischen Veränderungen einer organischen Probe unter unterschiedlichen elektrischen Feldern oder die Simulation von Alterungsprozessen in einem genau gemessenen Zeitrahmen. Das Instrument ist unter Berücksichtigung von Bildgebung, Analyse, Messung und Probenmanipulation konzipiert. Es enthält mehrere Funktionen zur Verbesserung der Datenausbeute und -qualität, wie automatisierte Drift-Korrektur, automatische Belichtungssteuerung und Multi-Pass-Scan für große Proben. Durch die Kombination der Heterogenitätsinformationen der Oberfläche und der Zusammensetzung der Probe bietet das Instrument eine hervorragende Vielseitigkeit für den Endanwender. Die Tools zur Datenanalyse und -manipulation steuern den Workflow des Instruments. Die Software-Suite umfasst Bildverarbeitungsprogramme zur Verbesserung der Sichtbarkeit von Funktionen, 3D-Rekonstruktionen, kompositorischen Analysetools sowie eine breite Palette von benutzerdefinierten Optionen für Automatisierungs- und Analysefunktionen. Abschließend ist S-9380 Rasterelektronenmikroskop Typ II ein fortschrittliches Instrument, das eine hervorragende Leistung für Anwendungen bietet, die eine Analyse auf einer Nanoskala und eine breite Palette von Merkmalen erfordern, die ein vielseitiges Experimentieren unter präzisen Umgebungsbedingungen ermöglichen. Die Anwender des Mikroskops profitieren von einem gut konzipierten System zur schnellen Erfassung und Analyse von Daten und die Software-Suite ermöglicht es den Anwendern, die auf dem Instrument verfügbaren Funktionen zu nutzen.