Gebraucht HITACHI S-9380 Type II #9251785 zu verkaufen

HITACHI S-9380 Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialproben entwickelt wurde. Dieses Modell verfügt über ein einfach zu bedienendes computergestütztes Bedienfeld, ein proprietäres elektronisches Scangerät und eine verbesserte Mikroskopstufe. Die mit diesem Modell erhältlichen Mikroskopiestufen bieten Platz für eine Vielzahl von Probengrößen und bieten maximale Flexibilität. Darüber hinaus sorgen sein einzigartiger Scan-Generator, eingebaute Autotuning-Funktionen und ein hochpräzises Mustersteuerungssystem für zuverlässige Leistung. Dieses hochauflösende SEM erreicht eine maximale Vergrößerung von 300.000 Mal und eine Gesamtauflösung von 1 Nanometer. Sein Sekundärelektronendetektor kann hochauflösende Bilder der Oberfläche erfassen, während sein rückgestreuter Elektronendetektor zur Erfassung elementarer Analysebilder verwendet wird. In Bezug auf die Steuerung ist S-9380 Typ II in der Lage, die Elektronenkanone, die Kameraeinstellungen, die Pulszählung, die Energiekalibrierung und die Vakuumsteuerung automatisch einzustellen. Es verfügt auch über eine automatische 3-Axis Stufensteuerung, um die Probe genau zu bewegen und zu fokussieren. Dieser Modus verfügt über eine innovative automatische Ausrichtungsfunktion, die den Neigungswinkel der Probe schnell auf einen benutzerdefinierten Bereich verändern kann. Das Mikroskop HITACHI S-9380 Type II bietet zudem eine benutzerfreundliche Softwareschnittstelle, die eine einfache Navigation der Funktionen des Rasterelektronenmikroskops ermöglicht. Seine ausgeklügelte grafische Benutzeroberfläche ermöglicht es Benutzern, schnell Daten zu erfassen, einschließlich Bilder und Spektren. Darüber hinaus hat dieses SEM eine verbesserte Konnektivität, da seine High-Speed-Ethernet-Verbindung Echtzeit-Remote-Operationen und Datenaustausch ermöglicht. Insgesamt ist S-9380 Typ II ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das ein hohes Maß an Flexibilität und Kontrolle bietet. Die Kombination aus hochauflösender Bildgebung, anspruchsvoller automatischer Einstellmaschine und benutzerfreundlicher Softwareschnittstelle machen es zu einer Top-Wahl für die Erfassung genauer Oberflächen- und Elementaranalysebilder und -daten.