Gebraucht HITACHI S-9380 Type II #9276374 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
ID: 9276374
Wafergröße: 12"
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12"
VID: VID753
Resolution: 2nm
Throughput: 33 Wafer/h
MAM Time: 4.0 Sec
Stage landing accuracy: ±1μm.
Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S-9380 Type II (SEM) ist ein hochentwickeltes Analysewerkzeug zur Untersuchung von Proben und Substraten bei verschiedenen Vergrößerungen. Es ist beliebt unter Technologie und Forschungsgemeinschaften für seine Fähigkeit, detaillierte Bilder von gescannten Objekten mit fünfdimensionaler Auflösung zu produzieren, die aus Länge, Breite, Tiefe, Verschiebung und Orientierung besteht. Das Gerät ist mit einer Rasterelektronensäule mit einer Beschleunigungsspannung von bis zu 0,30 kV bis 15 kV und einem Strom von bis zu 10 A im Abtastbetrieb ausgestattet. Dieses leistungsstarke und vielseitige System ermöglicht es Benutzern, detaillierte Bilder von Proben mit einer effektiven Vergrößerung von bis zu 500,000X zu erzeugen. Darüber hinaus bieten die Ausrichtungssysteme des Geräts eine präzise Kontrolle über den Scanbereich, so dass Benutzer die genauesten Bilder und Analysen erhalten. Das SEM beinhaltet einen spalteninternen Sekundärelektronendetektor mit einer optischen Weitwinkelansicht, hoher Sicht- und Feldtiefe und einer großen Blendenlinse, mit der Benutzer Bilder mit hoher Klarheit, Knusprigkeit und Klarheit aufnehmen können. Dank seiner digitalen Bildgebungsfunktionen erzeugt S-9380 Typ II SEM Bilder mit einer Auflösung von bis zu 1,25 nm, mit der Fähigkeit, Bilder mit bis zu fünfdimensionaler Auflösung aufzunehmen. Darüber hinaus ermöglicht das integrierte X-EDS-System den Anwendern eine energiedispersive Röntgenspektroskopieanalyse mit Hilfe einer Vakuumgehäusekammer. Diese Funktion ermöglicht es Anwendern, die chemische Zusammensetzung und die differentiellen Konzentrationen von Elementen in einer Probe schnell zu analysieren. Darüber hinaus ist HITACHI S-9380 Type II auch mit einer Niedervakuumfunktion ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, nichtleitende Proben in ihrer natürlichen Umgebung zu beobachten. Zusätzlich zu seinen Funktionen verfügt S-9380 Gerät Typ II über eine benutzerfreundliche Oberfläche mit einer Reihe von Bildverarbeitungswerkzeugen, mit denen Benutzer ihre Bilder effektiv manipulieren können. Dies macht es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, die von Materialwissenschaft, Halbleiter, Metallurgie, Geologie und verschiedenen physikalischen wissenschaftlichen Studien reichen. Insgesamt bietet die Rasterelektronenmikroskopie HITACHI S-9380 Type II Anwendern ein leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug zur Durchführung gründlicher, detaillierter Bildgebungs- und Spektroskopieanalysen. Die benutzerfreundliche Oberfläche und die hochentwickelte Technologie machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Forschungs- und Technologieanwendungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor