Gebraucht HITACHI S-9380 Type II #9281292 zu verkaufen
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ID: 9281292
Weinlese: 2004
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
2004 vintage.
HITACHI S-9380 Type II ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Bildgebung und Analyse von Proben im Nanometerbereich. Es ist in der Lage, mit hohen Beschleunigungsspannungen zu arbeiten (von 0.1kV auf 30kV), so dass es genug Leistung, um Bildgebung und Analyse von unglaublich feinen Details durchzuführen. Dank der hohen Auflösung, der ausgezeichneten Fokustiefe und der automatischen Bildnähte eignet es sich ideal für Aufgaben wie Bildmapping, automatisiertes Scannen und 3D-Rekonstruktionen. Die S-9380 besteht aus drei Hauptteilen: der Mikroskopsäule, der Abtastkammer und der signalverarbeitenden Elektronik. Die Mikroskopsäule ist die Hauptkomponente, in der Elektronenquelle, Linsen und Detektoren untergebracht sind. Es ist mit einer Isolationskammer konstruiert, die ein externes Kühlsystem verwendet, um das für den Betrieb erforderliche Vakuum aufrechtzuerhalten. Sein zweistufiger tridiagonaler Pistolenkollimator ermöglicht eine schnelle Änderung von Primärelektronenstrom und Kontrast. Die Probenahmekammer ist für die Gesamtmessung der Probendicke bis zu einer Dicke von 5 mm ausgelegt. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Probenkonfigurationen zu halten und ist für biologische, organische und anorganische Proben angepasst. Es ist mit Heiz- und Kühlsonden sowie einem 5-Achsen-Spannfutter zur Probenmanipulation ausgestattet. Die Probe kann sowohl im Vakuum als auch in der Luft abgebildet werden. Die Signalverarbeitungselektronik enthält die Datenerfassung, Bildverarbeitung und Steuerung. Dies ermöglicht es dem Benutzer, hochauflösende Bilder mit ausgezeichnetem Kontrast und einer Vielzahl von digitalen Signalverarbeitungswerkzeugen zu erfassen. Es enthält auch Software für automatisierte Steuerung und Bildnähte für einfache Visualisierung und 3D-Rekonstruktion. S-9380 Typ II bietet eine leistungsstarke Kombination aus Bildgebungs- und Analysefähigkeiten, die für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen geeignet sind. Seine hohe Auflösung, Beschleunigungsspannungen und sein breites Spektrum an Werkzeugen ermöglichen es Forschern, die komplizierten Details und Strukturen ihrer Proben im Nanometermaßstab aufzudecken.
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