Gebraucht HITACHI S-9380 #293811117 zu verkaufen

HITACHI S-9380
ID: 293811117
Scanning Electron Microscope (SEM).
Das HITACHI S-9380 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges Werkzeug zur Abbildung einer Vielzahl von Probentypen. HITACHI S9380 bietet hohe Leistung mit Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit. Das SEM ist ein vielseitiges Werkzeug mit der Fähigkeit, eine Reihe von Proben einschließlich biologischer Proben, Polymerproben und Nanomaterialien abzubilden. S 9380 verfügt über eine neu gestaltete Elektronensäule mit einer koaxialen Doppelpol-elektrostatischen Linse. Dies hilft bei der Bereitstellung eines großen Sichtfeldes von bis zu 33 mm und einer überlegenen bildgebenden Auflösung von 3 nm. S9380 verfügt zudem über eine hohe elektronische Stabilität und eine schnelle Abtastrate von bis zu 5,5 kHz. Dies ermöglicht eine Hochgeschwindigkeits-Bildgebung oder Live-Bildgebung von Proben mit schnellen Bewegungen. S-9380 verfügt über einen fortschrittlichen digitalen Detektor zur Bildgebung von Proben mit hoher Empfindlichkeit und geringem Rauschpegel. Dies hilft, auch die feinsten Details der Probe zu erfassen. Der Detektor bietet einen großen Dynamikbereich mit einem Verhältnis von 16 Bit zu Signal zu Rauschen von 14000: 1. Der Detektor ist in der Lage, Funktionen so klein wie 2nm zu erfassen. HITACHI S 9380 verfügt zudem über ein automatisiertes Erkennungssystem, das eine automatisierte Abbildung und Analyse von Oberflächenmerkmalen ermöglicht. Dies hilft dem Forscher, den Datenanalyseprozess zu beschleunigen. Das automatisierte System kann kleine Merkmale wie Mikrorisse und Mikropartikel erkennen. Insgesamt ist HITACHI S-9380 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit einer Vielzahl von Funktionen. Es verfügt über eine neu entworfene Elektronensäule mit einer koaxialen elektrostatischen Linse vom Doppelpoltyp, eine hohe elektronische Stabilität und schnelle Abtastrate, einen fortschrittlichen digitalen Detektor mit großem Dynamikbereich und niedrigem Rauschpegel und ein automatisiertes Detektionssystem zur Analyse von Oberflächenmerkmalen in Proben. Es ist ein vielseitiges Werkzeug, das in verschiedenen Anwendungen eingesetzt werden kann.
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