Gebraucht HITACHI S9380-2 #9351431 zu verkaufen

HITACHI S9380-2 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das es Anwendern ermöglicht, die Struktur von Proben mit Subpixelauflösung zu beobachten. Es unterstützt Beobachtungen im Hochvakuum sowie bei niedrigen und höheren Drücken. Darüber hinaus kann eine leistungsstarke bildgebende Ausrüstung SEM-Bilder mit hohem Kontrast erfassen. Dieses SEM verfügt über den sekundären Elektronendetektor Schottky emittierenden Elektronendetektor für eine detailliertere Abbildung. Darüber hinaus ist der Detektor in der CHELEX-Halterung (Corrected High Efficiency Low Energy Electron Detector) installiert, was zu hoher Haltbarkeit und zuverlässiger Bildgebung führt. Es ist mit dynamischer Fokustechnologie ausgestattet, wodurch es einfacher und schneller ist, hochauflösende Bilder zu erhalten. S9380-2 System bietet eine Vielzahl von Funktionen für höhere Signalverarbeitung und -analyse. Dazu gehören eine motorisierte Probenstufe, eine automatische Steuerung des Strahlstroms und der Breite, eine variable Strahleinstellung und mehr. Die fortschrittliche Videoverarbeitungseinheit und benutzerfreundliche Funktionen tragen in kürzerer Zeit zu hochwertigeren Bildern bei. Spektrale Röntgenanalyse Erfassung und Messung ermöglichen es Benutzern, Proben genauer zu analysieren, wenn sie mit einem Energy Dispersive Röntgenspektrometer verwendet werden. HITACHI S9380-2 Maschine verfügt über einen hochpräzisen Oxford InTouch Bruker Detektor und ein AXSY2 Pre-Scanning Tool zur automatischen Bilderfassung. Die AXSY2 kann die Instabilität des Strahlflecks kompensieren und bietet eine ideale bildgebende Umgebung. Die Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung kann die Akquisitionszeit für hochauflösende Bilder drastisch reduzieren. Ein computergestütztes Bilderfassungsobjekt ist ebenfalls in S9380-2 enthalten, so dass der Benutzer den Bereich von Interesse (AOI) und den Scan-Bereich anpassen kann. Das Modell kann die Parameter jeder AOI für die spätere Verwendung speichern und bietet mehrere Bildaufnahmemodi wie Weitbereichsbildgebung, Mehrwinkelbildgebung und Einzelbildgebung. Das Gerät verfügt über eine optionale Autopolaritätsfunktion, die programmiert werden kann, um Bilder sowohl der positiven als auch der negativen Seite der Probe zu erfassen. Es ist mit einem Sieben-Achsen-Eucentric-Arm-System ausgestattet, um auf die gewünschten Abtastwinkel zuzugreifen. Andere optionale Zusatzeinrichtungen schließen eine niedrige Vakuumeinheit (LVS) und Superhochgeschwindigkeitspendelspritzenmaschine (SSFIF) ein. Das Tool enthält eine optionale hocheffiziente Schnittstelle zur Fernsteuerung des SEM. Dies ermöglicht es Benutzern, das SEM von einem entfernten Standort aus zu steuern und ihnen die Flexibilität zu geben, verschiedene Operationen durchzuführen, ohne zur Maschine reisen zu müssen. Darüber hinaus unterstützt das Asset Ethernet-Kommunikationen für die Datenübertragung, die eine Echtzeit-Datenerfassung und -analyse ermöglichen. Für den Probenschutz bietet HITACHI S9380-2 SEM optionale Filtepoint TM Filter an, die die Menge an geladenen Partikeln und Trümmern aus der Probe reduzieren. Es enthält auch spezielle Montagestufen und Zubehör für die einfache Handhabung von Proben. Für die Probenvorbereitung ist S9380-2 mit einer Vielzahl von Probenhaltern kompatibel, einschließlich Stummeln, MEMS-Probenträger und Nanopartikel-Probenhalter. Diese Eigenschaften machen HITACHI S9380-2 ideal für eine Reihe von Forschungsanwendungen in den Bereichen Halbleiter, Dünnschichten, Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Biologie und vielen anderen Bereichen. Es bietet leistungsstarke Bildgebungs- und Analysefunktionen, mit denen Benutzer Proben mit Subpixelauflösung für mehr Details und Genauigkeit beobachten können.