Gebraucht HITACHI Scanning Electron Microscope (SEM) #293672028 zu verkaufen

HITACHI Scanning Electron Microscope (SEM)
ID: 293672028
HITACHI Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsfähiges Analysewerkzeug, das Proben mit extrem hohen Vergrößerungsgraden und beispiellosen Details betrachten kann. Bei der Rasterelektronenmikroskopie (Rasterelektronenmikroskopie) überfährt ein schnell abtastender Primärelektronenstrahl eine Oberfläche, die eine Vielzahl von Sekundärsignalen erzeugt, die dann analysiert werden, um ein detailliertes Bild der Probe zu erzeugen. Das SEM ist mit einer Wolfram-Filament-Elektronenquelle ausgestattet, wobei der Elektronenstrahl auf zwischen 1-20 Kilovolt beschleunigt wird. Der Strahl wird auf eine Strahlgröße zwischen 0,5-2,0 Mikrometer fokussiert, was eine extrem hochauflösende Analyse ermöglicht. Die Wechselwirkung des Strahls mit der Probe erzeugt Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen, Augerelektronen, Röntgenstrahlen und Kathodolumineszenz, die durch ein Array von elektromagnetischen Detektoren oder eine Ladungspaareinrichtung (CCD) -Kamera detektiert werden. Auf den Strahl können spezielle Linsen aufgebracht werden, um ein Stereobild zu erzeugen, das besonders für die dreidimensionale Analyse geeignet ist. Das SEM wird auch mit mehreren Zubehörteilen geliefert, mit denen die Probe weiter analysiert werden kann. Eine solche Vorrichtung ist das energiedispersive Röntgen- (EDX) -Spektrometer, das eine qualitative und quantitative elementare Zusammensetzung der zu untersuchenden Probe liefert. Die CCD-Kamera (Charge Coupled Device) bietet Bilder zur Offline-Analyse und Archivierung. HITACHI SEM eröffnet auch eine Vielzahl von bildgebenden Verfahren, wie sekundäre und rückgestreute Bildgebung, Phasenkontrast-Bildgebung und Niederspannungs-Bildgebung. Dies bietet ein umfangreiches Spektrum anspruchsvoller bildgebender Funktionen, die die Analyse verschiedener Eigenschaften der Probe ermöglichen. Zu den Vorteilen von HITACHI SEM gehören hochauflösende bildgebende Funktionen, eine breite Palette von bildgebenden Techniken, automatisierte Probenvorbereitung und -analyse, große Schärfentiefe und Auflösung sowie die Fähigkeit, hervorragenden Kontrast, Helligkeit und Farbe bei einer Vergrößerung von bis zu 1 Million zu ermöglichen. Mit seiner hervorragenden bildgebenden Auflösung ist HITACHI SEM bei Universitäten, Forschungsinstituten und der Industrie für seine vielfältigen Anwendungen wie Materialforschung, Metallographie, Mikrofabrikation und Kunstkonservierung immer beliebter geworden. Es ist ein äußerst effektives Werkzeug, um die Merkmale und Eigenschaften einer Probe zu untersuchen und unglaubliche Details über die Struktur einer Probe bereitzustellen.
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