Gebraucht HITACHI SU-70 #293775267 zu verkaufen

ID: 293775267
Scanning Electron Microscope (SEM) Process type: TEM / Dual beam Trackball Deceleration mode QUARTZ PCI RS-232C for EDX integration 5-Axis motorized stage Type II Imaging: 1.0 nm at 15 kV, 4 mm 1.6 nm at 1 kV, 1.5 mm (Deceleration mode) 2.5 nm at 1 kV , 1.5 nm (Standard mode) Magnification: Low: 25-2000x High: 100-800000x Specimen stage: 5 Axis motorization: X: 110 mm Y: 110 mm Z: 1.5 to 40 mm T: -5 to +70 R: 360°, 150 mm Load lock Electron optics: ZrO/W Schottky emission Probe current: 200 nA at 30 kV Mountable accessories: EDX WDX EBSP STEM BSE CL YAG Cryogenic stage Operating system: Windows 7 Power supply: Single phase AC 100 V, 4 kVA.
HITACHI SU-70 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das außergewöhnliche Leistung und Bildqualität bietet. Das optische System besteht aus zwei identischen elektrostatischen Objektivlinsen, die die gleichzeitige Beobachtung von Sekundär- und Rückstreuelektronen ermöglichen. Diese Objektive ermöglichen eine hochauflösende Bildgebung unter Beibehaltung einer kompakten Größe. Das SEM hat eine Kammer, die manipuliert werden kann, um eine Vielzahl von Proben aufzunehmen. Dadurch kann der Benutzer den Fokus und die Vergrößerung genau einstellen. Das Mikroskop weist außerdem eine Feldemissionskanone (FEG) auf, die es dem Benutzer ermöglicht, die Energie der Elektronen einzustellen, um Oberflächenmerkmale zu beobachten und die Zusammensetzung der Proben zu analysieren. Die Pistole ist in der Lage, bis zu 3,000V beschleunigende Spannung zu liefern, die die Untersuchung von Proben von nichtleitenden Materialien mit einer Vielzahl von Elektronenenergien ermöglicht. Die FEG ist auch in der Lage, eine niedrige kV-SEM-Bildgebung von nichtleitenden Materialien mit einer Kontrastauflösung von bis zu 1 nm oder 0,1 nm bereitzustellen. Das SEM verfügt über eine einzigartige Benutzeroberfläche (U.I.), die eine einfache Bedienung ermöglicht. Der Benutzer kann entweder die englische oder japanische Sprache mit einer grafischen Benutzeroberfläche auswählen, um die Einstellungen und Parameter des Mikroskops anzupassen. Für den verbesserten Betrieb ist das Mikroskop mit dedizierter Software gebündelt, die bei der Einstellung der Parameter und der Bilderfassung helfen kann. Schließlich ist das Mikroskop mit einer Reihe von Zubehörteilen ausgestattet, darunter Probenhalter, Spezialstufen und polarisierte Filter, die dem Anwender helfen, den bildgebenden Prozess zu optimieren. Die Kombination der verschiedenen Funktionen bietet dem Anwender ein präzises und leistungsfähiges SEM.
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