Gebraucht HITACHI SU-70 #293820142 zu verkaufen

HITACHI SU-70
ID: 293820142
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI SU-70 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) der HITACHI High-Tech Corporation. Dieses hochmoderne Instrument wurde entwickelt, um hochauflösende bildgebende und präzise elementare Analysefunktionen für eine Vielzahl von Anwendungen in verschiedenen Bereichen der Wissenschaft und Industrie bereitzustellen. HITACHI SU70 SEM ist mit einer hochhelligen Feldemissionselektronenkanone ausgestattet, die es ermöglicht, eine außergewöhnliche Bildauflösung bei hohen und niedrigen Spannungen zu erzielen. Das Instrument verfügt über eine maximale Auflösung von bis zu 0,4 Nanometern bei 30 kV, so dass Anwender feine Details und Strukturen mit bemerkenswerter Klarheit visualisieren können. Diese hohe Auflösung macht SU 70 ideal für Anwendungen, die die Untersuchung von nanoskaligen Eigenschaften und Materialien erfordern. Neben seinen überlegenen bildgebenden Fähigkeiten ist SU-70 auch mit fortschrittlichen energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektoren für die Elementaranalyse ausgestattet. Diese Detektoren ermöglichen es Benutzern, eine schnelle und genaue Zusammensetzungsanalyse von Proben durchzuführen, wobei die im untersuchten Material vorhandenen Elemente identifiziert und quantifiziert werden. Das EDS-System des Geräts ist in der Lage, eine breite Palette von Elementen, von Beryllium bis Uran, mit hoher Empfindlichkeit und Präzision zu erkennen. HITACHI SU 70 SEM verfügt über eine benutzerfreundliche Oberfläche und intuitive Steuerungssoftware, die es Forschern und Technikern ermöglicht, das Instrument einfach zu bedienen und komplexe Analysen mit minimalem Training durchzuführen. Die Software des Instruments bietet eine breite Palette von Bildgebungs- und Analysetools, einschließlich Bildverarbeitung, Elementarkartierung und Zeilenscannung, um die Qualität der während Experimenten erfassten Daten zu verbessern. SU70 ist auch mit einer Vielzahl von innovativen Funktionen ausgestattet, um die Workflow-Effizienz und die Datenerfassung zu verbessern. Diese Funktionen umfassen automatisierte Bildgebungsroutinen, Navigationsfunktionen für die Bühne und erweiterte Strahlsteuerungsoptionen, die alle dazu beitragen, den Analyseprozess zu optimieren und die Produktivität im Labor zu erhöhen. Darüber hinaus ist HITACHI SU-70 SEM vielseitig konzipiert und bietet eine breite Palette von Mustertypen und -größen. Das Instrument verfügt über eine große Kammer mit viel Platz für sperrige Proben sowie spezialisierte Halter und Stufen für dünne Filme, Fasern und biologische Proben. Diese Flexibilität macht HITACHI SU70 für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, von der Materialwissenschaft über die Halbleiteranalyse bis hin zur biologischen Forschung und Geologie. Insgesamt stellt das Rasterelektronenmikroskop SU 70 ein hochauflösendes Instrument zur bildgebenden und elementaren Analyse dar. Mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten, der benutzerfreundlichen Oberfläche und dem vielseitigen Design ist SU-70 ein leistungsstarkes Werkzeug für Forscher, Ingenieure und Wissenschaftler, die die Grenzen der Mikroskopie erweitern und die Nanowelt präzise und präzise erkunden möchten.
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