Gebraucht HITACHI SU-70 #9049699 zu verkaufen

HITACHI SU-70 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochmodernes bildgebendes Instrument, das ein unvergleichliches Maß an bildgebender Qualität und Vielseitigkeit bietet. Es ist mit fortschrittlichen analytischen Fähigkeiten entworfen, die die Untersuchung von Proben aus einer breiten Palette von Materialien ermöglichen. Mit dem SEM können verschiedene elektronische Eigenschaften detailliert untersucht und Materialien bis auf atomare Ebene analysiert werden. Das SEM zeichnet sich durch eine hohe Bildauflösung aus, die sich durch hervorragende Bildklarheit und tiefe Schärfentiefe auszeichnet. Ein genaues Bild kann schnell und einfach aufgenommen werden, mit Digitalisierung aller Parameter einschließlich Helligkeit, Kontrast, Farbe und mehr. Das Instrument bietet auch eine breite Palette von Bildverbesserungen, um die feinen Details einer Probe hervorzuheben. Das SEM verfügt auch über ein breites Spektrum an Energiefähigkeiten, so dass die Untersuchung von Materialien über einen großen Bereich von Energien. Diese Energieabdeckung von sehr niedrig bis hoch macht sie für eine Vielzahl von Anwendungen wie Oberflächenanalyse, Kristallographie, Sekundärelektronenbildgebung und Auger-Elektronenspektroskopie geeignet. Das System verfügt über mehrere automatisierte Funktionen, wie Bildnähte, die eine weitere Analyse ermöglichen. Kern des Systems ist eine hochauflösende Schottky-Feldemissionselektronenquelle. Diese Quelle ist sehr stabil und erzeugt einen schmalen Elektronenstrahl mit niedriger Punktgröße, der eine hohe Klarheit und Auflösung ermöglicht. Das SEM ermöglicht bis zu 20 kV Beschleunigungsspannung, so dass Benutzer eine Vielzahl von Proben genau analysieren können. HITACHI SU70 ist in der Lage, Daten für die quantitative Analyse der Probe mit Optionen wie Elementaranalyse zu erfassen. Hochauflösende Bilder können mit EDX-Detektoren aufgenommen werden, die eine detaillierte Analyse verschiedener Elemente und Verbindungen ermöglichen. Darüber hinaus verfügt das SEM über einen automatisierten Back-Scatter-Detektor, der sich perfekt für die Untersuchung der Topographie eignet. Das Instrument ist für einfache Bedienung konzipiert und bietet einfach zu navigierende Menüs und intuitive Software. Der Benutzer kann schnell durch die Menüs navigieren, um die gewünschten Bildparameter auszuwählen und schnell mit der Bildgebung zu beginnen. Das SEM bietet auch erweiterte Softwareanalysepakete wie Auto-Focus-Funktionen zur Identifizierung relevanter Funktionen und ein leistungsfähiges Bildanalysepaket, mit dem Benutzer Bilder manipulieren können. Abschließend ist SU 70 Scanning Electron Microscope ein leistungsstarkes und funktionsreiches Instrument. Es bietet eine hochauflösende Bildgebung, Energieabdeckung für eine Vielzahl von Mustertypen, eine breite Palette von automatisierten Funktionen und intuitive Software. Mit seiner Fähigkeit, auf die atomare Ebene abzubilden, ist das System ein wertvolles Werkzeug für die Untersuchung und Analyse einer Vielzahl von Materialien.