Gebraucht HITACHI SU-8010 #9208800 zu verkaufen

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ID: 9208800
FE Scanning electron microscope Transformer: 5 kVA Compressor Dry scroll pump BRUKER EDX Detector EDX XFLASH Detector: 6/60, 60sq, 129eV, Slew PCI OEM: Lab and Office FESEM.
HITACHI SU-8010 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hervorragende technische Fähigkeiten und eine breite Palette von Funktionen bietet. Das Gerät ist mit einer hochmodernen Rasterelektronenoptik ausgestattet, die hochdetaillierte Bilder von Objekten bis zu einer Größe von 0,5 nm ermöglicht. Darüber hinaus ist es auch in der Lage, durch die Verwendung seiner Kryofeldemissionselektronenquelle mit einer langen Lebensdauer analytisch relevante Bilder von nichtleitenden Proben zu erstellen. Es wird bequem von einem leistungsstarken digitalen Controller betrieben, der automatisches Scannen und eine Reihe von zusätzlichen Funktionen unterstützt, wie Ultra-Large-Area-Imaging-Kits und dedizierte Umwelt-SEM-Kammern. Das System eignet sich dank seiner vielfältigen Ausstattung und Funktionen gleichermaßen für routinemäßige und fortschrittliche Anwendungen. Der integrierte energiedispersive Röntgendetektor (EDS) ermöglicht es dem Anwender, Probenzusammensetzungen einfach zu identifizieren und zu analysieren. Darüber hinaus erleichtert HITACHI-Vakuumeinheit sowohl Ultrahochvakuum (UHV) für elementare Bildgebung als auch eine Reihe von Gasen, um in Forschungsstudien zu unterstützen. HITACHI SU8010 verfügt zudem über einen HTEM-Modus (High Transmission Electron Imaging), der es ermöglicht, die In-situ-Bildgebung dynamischer Phänomene in Echtzeit zu beobachten. Darüber hinaus verfügt die Maschine über eine fortgeschrittene Probenstufe, die aus einer 5-Achsen-Mikro-/Nanosondenstufe, einer großen Probenkammer und spezialisierten Kryostufen für Proben besteht, die niedrige Temperaturbedingungen erfordern. Das Werkzeug kann auch mit einer Vielzahl von Zubehörteilen wie einer Probenheizung, einem niedrigen Vakuumübertragungsmodell, einer fortschrittlichen Beschleunigungs- und Verzögerungstechnologie und einer neuen automatischen Ausrichtausrüstung ausgestattet werden, die alle für die Abbildung schwieriger Proben nützlich sind. Nicht zuletzt ist das System mit einem AES-Detektor ausgestattet, der eine kontrastreiche elementare Abbildung von magnetischen/nichtmagnetischen Materialien einschließlich Flüssigkeits- oder Pulverproben ermöglichen kann. Mit dieser Funktion können Forscher Einblick in die einzelne atomare Struktur erhalten, ohne dass eine spezielle Probenvorbereitung erforderlich ist. All diese Eigenschaften machen SU 8010 zu einem großartigen Rasterelektronenmikroskop für präzise Bildgebung und elementare Identifikation.
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