Gebraucht HITACHI SU-8010 #9268652 zu verkaufen

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ID: 9268652
Weinlese: 2014
Scanning Electron Microscope (SEM) SE-BSE EBIC KLEINDIEK X2 Probes BRUKER EDX 6/60 2014 vintage.
HITACHI SU-8010 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges 4-Kanonen-SEM-Gerät mit variabler Druckfeldemission mit hoher Leistung. Es vereint die neuesten Fortschritte in der Feldemissionsquellentechnologie und Elektronenoptik, um hochauflösende und qualitativ hochwertige Bilder für eine breite Palette von Materialien zu erzeugen. HITACHI SU8010 verfügt über eine speziell entwickelte Vier-Kanonen-Feldemissionsquelle, die aus der herkömmlichen Drei-Kanonen-Einstellung besteht, sowie ein spezielles viertes Geschützdesign, um eine hohe Strom- und maximale Beschleunigungsspannung zu erzielen, unter Beibehaltung eines stabilen Feldemissionsstroms und einer langen Lebensdauer. Die Vier-Kanonen-Feldemissionsquelle verwendet eine primär-gerichtete Elektronenoptik, die sphärische Aberration reduziert und hochauflösende Bilder erzeugt. Das SEM bietet eine breite Palette von Vergrößerungen bis zu 6.000x und kann bis zu vier Proben gleichzeitig aufnehmen und ermöglicht einen gleichzeitigen Vergleich und eine qualitativ hochwertige Bildgebung mehrerer Materialien. Der gesamte Probenkammerdruck kann zwischen 0,5-60 Pa eingestellt werden und weist eine Steckgasmischeinheit zur hochauflösenden Abbildung verschiedener Proben in verschiedenen Gasen auf. SU 8010 ist mit einer Hochgeschwindigkeits-Scanmaschine ausgestattet, die eine große und breite Scangröße gewährleistet und eine große Scanabdeckung ermöglicht. Es enthält auch einen Standard-eingebauten überlegenen Sekundärelektronendetektor, um klare Bilder auf Proben mit dünnen oder transparenten Schichten anzubieten. Ein einzigartiges Kühlwerkzeug im Inneren des SEM reduziert störende Geräusche, verleiht erhöhte Stabilität und Gleichmäßigkeit, extrem schnelles Scannen und erzeugt scharfe und genaue Bilder. Ein hochauflösendes TEM/STEM (Transmission Electron Microscope/Scanning Transmission Electron Microscope) kompatibles Pistole-Filament Wärmelast Betrieb ist ebenfalls verfügbar. Das bildgebende Softwarepaket bietet automatische Bildoptimierungstools, die die Bildanalyse weiter vereinfachen und Ihnen helfen, aussagekräftige Ergebnisse schnell zu erfassen. Darüber hinaus kommt es mit einem effizienten Imaging-Manipulationspaket, einschließlich 3D-Bildgebung und Analysefunktionen. Die variable Druckfeldemission SEM-Asset von SU8010 ist sehr vielseitig und bietet überlegene Bildgebung in einer Vielzahl von experimentellen Bedingungen. Es ist Ihr ideales Instrument für hochauflösende Bildgebung verschiedener Materialien und morphologische Analyse.
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