Gebraucht HITACHI SU-8010 #9412046 zu verkaufen
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ID: 9412046
Weinlese: 2014
Scanning Electron Microscope (SEM)
SE-BSE
EBIC
KLEINDIEK X2 Probes
BRUKER EDX 6/60
2014 vintage.
HITACHI SU-8010 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um detaillierte morphologische Daten einer breiten Probe von Materialien in Submikronauflösung schnell und genau zu erfassen. Das Design und der Aufbau des Mikroskops sind optimiert, um hochauflösende, kontrastreiche Bilder von Materialien von biologischen Proben bis hin zu Pulverproben zu erzeugen. Die große Schärfentiefe ermöglicht eine präzise Abbildung von Proben mit einer Vielzahl von Musterformen, -größen und -orientierungen. HITACHI SU8010 ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die einen stabilen und zuverlässigen Elektronenstrom liefert. Diese FEG-Quelle ist in der Lage, einen Elektronenstrahl mit niedriger Energieausbreitung und hoher Helligkeit zu erzeugen. Der Elektronenstrahl wird durch eine optimierte Einzel-Linseneinrichtung optisch fokussiert und abgetastet, um Auflösung und Kontrast zu verbessern. Das Mikroskop nutzt auch ein ausgeklügeltes CCD-Kamerasystem mit proprietären Bildverarbeitungstechnologien, um hochwertige digitale Bilder mit ausgezeichneter Auflösung und hohem Kontrast zu erhalten. Das SEM ist mit einer ausgeklügelten Probenhaltereinheit ausgelegt. Der Halter kann bis zu 3 Proben gleichzeitig aufnehmen und kann auch zur gleichzeitigen Abbildung mehrerer Proben mit unterschiedlichen Strahlstrom- und Beschleunigungsspannungseinstellungen verwendet werden. Dadurch kann der Benutzer das Signal-Rausch-Verhältnis der aufgenommenen Bilder verbessern. Ein optisches Bild kann auch mit SU 8010 aufgenommen werden. Dies geschieht mit einem Hochdruckszintillator, der die vakuumemittierten Sekundärelektronen in ein Videosignal umwandelt, das von der CCD-Kamera aufgenommen wird. Dadurch kann der Benutzer die Probe vor und nach der Abtastung mit dem Elektronenstrahl beobachten. Der mechanische Aufbau des SEM ist auf Stabilität und Zuverlässigkeit optimiert. Piezo-gesteuerte X-Y-Stufen werden verwendet, um eine präzise Navigation von Proben mit Leichtigkeit zu ermöglichen. Die Präzisionsregelung in der Navigation wird mit der Steuerungstheorie des offenen Kreislaufs erreicht, und das Mikroskop ist mit einem vierachsigen Joystick ausgestattet, der eine synchronisierte Bewegung in Echtzeit ermöglicht. SU8010 ist ein ausgeklügeltes Rasterelektronenmikroskop, das Forschern und Technikern ein zuverlässiges und genaues Werkzeug zur Untersuchung einer Vielzahl von Proben bietet. Die durch das Mikroskop erhaltenen hochauflösenden, kontrastreichen Bilder können Einblick in die Struktur und Morphologie eines Materials geben. Die fortschrittliche Musterhaltermaschine, das mechanische Design und das CCD-Kamerawerkzeug ermöglichen es dem Benutzer, genaue Bilder schnell und einfach zu erfassen.
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