Gebraucht HITACHI SU-8010 #9412309 zu verkaufen
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HITACHI SU-8010 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Beobachtung von Oberflächen und der Struktur von Materialien. Es verfügt über ein energiedispersives Spektrometer (EDS) und eine große Arbeitskammer mit Hochdruckluftschloss. Das SEM nutzt einen Elektronenstrahl, um Bilder mit einer Auflösung von bis zu 0,5 nm zu erzeugen, was eine detaillierte Untersuchung und Analyse von Oberflächenmerkmalen und Mikrostrukturen ermöglicht. HITACHI SU8010 verfügt über eine große Arbeitskammer von 21 cm Durchmesser mit einem Vibrationsunterdrückungsmechanismus und einem robusten Hochdruckluftschloss. Das Luftschloss ermöglicht eine Probenübertragung ohne Verschmutzung, und der Vakuumanschluss kann getrennt werden, um die Arbeitskammer vom Vakuumsystem zu isolieren. Das SEM verfügt über eine Probenstufe, die eine breite Palette von Probengrößen und -formen aufnehmen kann. Das SEM ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle und einem thermoionischen Detektor für die Sekundärelektronen ausgestattet. Der Elektronenstrom kann von 1 pA bis 10 nA eingestellt werden, was eine Vielzahl von Proben und Bedingungen ermöglicht. Der Elektronenstrahl kann zur Weitflächenbeobachtung und zur Punktgrößenreduzierung abgelenkt werden. SU 8010 verfügt außerdem über ein energiedispersives Spektrometer (EDS) zur chemischen Analyse von Oberflächen. Das EDS verfügt über einen Silizium-Oberflächensperrdetektor (SSD) mit großem Raumwinkel, der eine schnelle und genaue Elementaranalyse ermöglicht. Das System verfügt über zusätzliche Funktionen, wie automatische Verstärkungsregelung, Mehrkanal-Röntgenfensterung und Pulspileup-Ablehnung, die ausreichend Flexibilität für verschiedene experimentelle Bedürfnisse bieten. Das SEM ist mit einem Bildprozessor zur Echtzeitverarbeitung von Mikroskopbildern ausgestattet. Der Prozessor kann Bilder kombinieren und morphologische Analysen durchführen, um genaue Schlussfolgerungen und detaillierte Rekonstruktionen zu ziehen. Das System verfügt auch über eine Vielzahl von Schnittstellen, darunter einen Parallelport, RS-232 und IEEE1394, wodurch eine einfache Verbindung zu verschiedenen Computersystemen ermöglicht wird. SU8010 ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungsanforderungen entwickelt wurde. Es verfügt über eine robuste Konstruktion und Konstruktion und bietet eine überlegene Bildgebungs- und Analysefähigkeit, die für hochauflösende Beobachtungen von festen Oberflächen geeignet ist.
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