Gebraucht HITACHI TEM Regulus 8220 #293622894 zu verkaufen

HITACHI TEM Regulus 8220 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es verwendet Goniometer-Technologie mit hoher Zulässigkeit, um hochauflösende bildgebende und analytische Funktionen für eine Vielzahl von Anwendungen bereitzustellen. Das System integriert eine Scanning Fieldemission Gun (FEG) und eine leistungsstarke Thermionic Gun (TEM), um die Charakterisierung der Proben zu maximieren. Der Regulus 8220 bietet mehrere Abbildungsmodi, einschließlich SE (Sekundärelektron), BSE (rückgestreutes Elektron) und SEI (surface-enhanced imaging) für die hochauflösende Abbildung von Proben bis zu 20 μ m Größe. Darüber hinaus verfügt das Gerät über einen voll ausgestatteten Stereomikroskop-Modus, der die Inspektion von ebenen Oberflächen sowie dreidimensionalen Oberflächen mit höherer Auflösung ermöglicht. Der Regulus 8220 ist in der Lage, bis zu 30kV Beschleunigungsspannung zu erreichen, was eine höhere Auflösung der Bildgebung und Analyse als die meisten SEMs auf dem Markt ermöglicht. Die TEM-Stufe verfügt zudem über einen weiten Winkelbereich, der eine Analyse von Proben ohne signifikante Neigung ermöglicht. Die Maschine ist auch mit einem empfindlichen EDS-Detektor ausgestattet und kann eine Vielzahl von Elementen in der Probe erkennen. Mit einem Hochumlenkdetektor und einem integrierten energiedispersiven Spektrometer ermöglicht das Werkzeug eine genaue Analyse der Proben. Die Integration von FEG und TEM ermöglicht einen vielseitigen und schnellen Analyseprozess. Die automatische Ausrichtungsfunktion auf Waferebene ermöglicht eine genaue Datenerfassung und die Integration einer GPU in das Modell ermöglicht eine schnellere Bildgebung. Der Regulus 8220 ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Materialanalyse und Probencharakterisierung. Seine Fähigkeiten umfassen hochauflösende Bildgebung und automatisierte Analyse. Darüber hinaus ist es in der Lage, eine breite Palette von Elementen in der Probe zu erkennen, so dass es ein ideales Werkzeug für eine Vielzahl von Laboranwendungen.