Gebraucht HITACHI TM-3030 Plus #293779279 zu verkaufen

ID: 293779279
Weinlese: 2017
Tabletop Scanning Electron Microscope (SEM) Magnification range: 20000x Secondary Electron Detector (SED) Backscattered Electron Detector (BSE) EDS Diaphragm pump Vacuum system Operating system: Windows 7 2017 vintage.
HITACHI TM-3030 Plus ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um bis zu 30.000x Vergrößerung für Routineproben und 50.000x Vergrößerung bereitzustellen, um die höchsten Auflösungsbilder in der Schaltkreisforschung oder Fehleranalyse zu erhalten. Mit seinen erweiterten Steuerungsfunktionen ist TM-3030 Plus eine führende High-End-Imaging-Lösung. HITACHI TM-3030 Plus verfügt über eine kontrastreiche und lichtstarke Überwachungskamera, die in der Lage ist, Bilder mit Hellfeld und rückgestreuter Elektronendetektion sowie Sekundärelektronen und fluoreszierenden Röntgenstrahlen aufzunehmen. Dank der integrierten Bildverarbeitungsfunktionen können Benutzer Bildeinstellungen wie Schwellenwert, Kontrast und Gamma anpassen. Die höchste Auflösung digitaler Bilder wird durch die fortschrittliche Projektion von TM-3030 Plus gewährleistet, die die Proben mit einem energiereichen Elektronenstrahl beleuchtet. Das wird mit dem variablen Druck des Mikroskops und sekundärer Elektronunterdrückungstechnologie gestärkt, die die Fähigkeit der Elektronen sichert, unter der Oberfläche der Probe einzudringen und hochauflösende Quer-Schnittbildaufbereitung zu nehmen. HITACHI TM-3030 Plus verfügt über ein Touch-Bedienfeld, einen automatisierten Probenwechsler und ein integriertes optisches Mikroskop. Es verfügt über variable Stufen- und Rückfokussteuerungen, die eine präzise Bildeinstellung ermöglichen. Es verfügt auch über eine integrierte, mehrachsige motorisierte Stufe für die 3D-Bildgebung sowie einen fortschrittlichen 12-Bit-Digitalsignalprozessor und einen Bühnenscanner zur automatisierten Bildherstellung. TM-3030 Plus ist ein leistungsstarkes, vielseitiges Mikroskop, das eine breite Palette von Informationen für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen bereitstellt. Es verwendet eine einzigartige Kombination aus SEM- und EDX-Analyse, um genaue und detaillierte Bilder zu generieren, um genaue Daten und zuverlässige Ergebnisse zu gewährleisten. Seine Präzision und Leistung machen es zu einer idealen Wahl für Fehleranalyse, metallurgische Forschung, Halbleiterherstellung und Schaltungsforschungsanwendungen. Mit seiner Fähigkeit, Proben schnell nach hochauflösenden Bildern zu scannen, ermöglicht HITACHI TM-3030 Plus die schnelle Erfassung wertvoller Daten.
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