Gebraucht HITACHI TM-3030 Plus #293817536 zu verkaufen

HITACHI TM-3030 Plus ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop für eine Vielzahl von Analyse- und Bildgebungsanwendungen. Es verfügt über eine einzigartige Ultra-High-Performance-SEM-Engine in Verbindung mit vollautomatischer Bildgebungs- und Analysetechnologie. Mit seinem großen Sichtfeld und der neuartigen elektronenoptischen Technologie eignet sich TM-3030 Plus für die unterschiedlichsten Aufgaben in den Bereichen Materialwissenschaften, Biologie und Elektronik. HITACHI TM-3030 Plus bietet extrem hochauflösende Bildgebungsfunktionen. Mit einer Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV ist es in der Lage, Bilder mit einer maximalen Auflösung von 0,1 nm zu erzeugen. Das Mikroskop verfügt auch über eine Vakuum High Resolution (VHR) Kühlfeld Elektronenquelle. Diese VHR-Kühlfeld-Elektronenquelle ermöglicht TM-3030 Plus einen Hochtemperaturbetrieb unter Beibehaltung niedriger Betriebsspannung, wodurch ein hochauflösendes Bild ohne Einbußen bei der Oberflächenempfindlichkeit möglich ist. HITACHI TM-3030 Plus Rasterelektronenmikroskop ist mit einer Fülle von Funktionen ausgestattet, die schnelle und präzise Messungen ermöglichen. Es verfügt über ein neues elektronenoptisches System, um eine hocheffiziente Bildgebung zu ermöglichen, und ist mit einem EDS-CDD-Detektor für die hochauflösende Röntgenanalyse von Proben ausgestattet. Darüber hinaus ist TM-3030 Plus mit einem integrierten Automated Control System (ACS) ausgestattet, um den genauen Standort von Partikeln zu ermitteln und in Echtzeit zu verfolgen. Dies ermöglicht eine komplexe quantitative Abbildung und Messung einzelner Partikel mit höherer Geschwindigkeit und Genauigkeit als bei manueller Bedienung möglich. Darüber hinaus ist HITACHI TM-3030 Plus mit Sekundärelektronendetektion ausgestattet, die eine verbesserte Bildgebung von kleinen, zerbrechlichen Partikeln ermöglicht, die sonst mit herkömmlichen bildgebenden Techniken vermisst würden. Außerdem verfügt das Mikroskop über einen EDX Analyzer zur Elementaranalyse von Proben. Schließlich verfügt TM-3030 Plus über eine Datenverwaltungssoftware mit einer Remote-Zugriffsschnittstelle, mit der Benutzer Daten problemlos überprüfen, verwalten und gemeinsam nutzen können. Diese einzigartige Kombination von Funktionen macht HITACHI TM-3030 Plus zu einem idealen Kandidaten für eine Vielzahl komplexer Charakterisierungsaufgaben.