Gebraucht HITACHI TM-3030 Plus #9229603 zu verkaufen

HITACHI TM-3030 Plus Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes bildgebendes Werkzeug, das hochauflösende bildgebende Funktionen und präzise Messungen auf der Nanoskala bietet. Es ist in der Lage, detaillierte 3D-Bilder zu erstellen und wurde speziell für Materialcharakterisierung, Fehleranalyse und Forschungsanwendungen entwickelt. TM-3030 Plus ist mit vier Elektronenquellen ausgestattet: einer Schottky Field Emission (SFE) FEG-Quelle, einer Wolfram (W) FEG-Quelle, einer Thermal Field Emission (TFE) -Quelle und einer In-Spalte Lanthanum Hexaboride (LaB6) -Quelle. Das System verfügt auch über ein Dual-Detektor-System, das den gleichzeitigen Betrieb sowohl eines InLens-Detektors als auch eines BackScattered Electron (BSE) -Detektors ermöglicht, um eine Vielzahl von hochauflösenden Abbildungsmodi zu ermöglichen. HITACHI TM-3030 Plus verfügt zudem über eine benutzerfreundliche Benutzeroberfläche, die die Bedienung des Systems vereinfacht. Das SEM verfügt zudem über ein sehr robustes Design, das für lange Zeit Hochvakuumbedingungen standhält und somit ideal für die längere Charakterisierung und Abbildung von Nanostrukturen und Submikronpartikeln geeignet ist. Das SEM ist auch sehr zuverlässig und erzeugt niedrige Feldemissionsströme, so dass es Bilder mit hoher molekularer und atomarer Auflösung bereitstellen kann. Darüber hinaus nutzt TM-3030 Plus Winkelfilterung, um den Einfluss von Verunreinigungsteilchen auf die zu analysierende Probe zu reduzieren, was zu einem detaillierteren Bild führt. Es ist auch in der Lage, in großen Bereichen von Betriebsdruckeinstellungen und -geschwindigkeiten zu arbeiten, so dass es für verschiedene Kryo-bildgebende Anwendungen geeignet ist. Darüber hinaus ist HITACHI TM-3030 Plus mit einem sanften Strahlansatz ausgestattet, um Probenschäden während der Bildgebung zu minimieren und die Abbildung fragiler Proben zu ermöglichen. Das SEM arbeitet auch in vollem Umfang mit beschleunigenden Spannungen und bietet hochauflösende Bildgebungsfunktionen. Insgesamt ist TM-3030 Plus ein leistungsstarkes All-in-One-Rasterelektronenmikroskop für Materialcharakterisierung, Fehleranalyse und Forschungsanwendungen. Das SEM bietet hochauflösende bildgebende Funktionen, robustes Design, niedrige Feldemissionsströme und ist mit mehreren Elektronenquellen und Detektoren für verschiedene bildgebende Modi ausgestattet. Darüber hinaus ist es auch in der Lage, Kryo-bildgebende Anwendungen und verfügt über einen sanften Strahlansatz, um Probenschäden während der Bildgebung zu minimieren.