Gebraucht HITACHI TM-3030 #9067359 zu verkaufen

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ID: 9067359
Scanning electron microscope, (SEM) Tabletop microscope (5) Image modes: Topography, composite, shadow-1, shadow-2, charge suppression mode (3) Acceleration voltage modes: 3-stage 5kV, 15kV, 15kV high contrast (high current) Detector: Four Quadrant, High sensitivity semiconductor BSE detector Electron Source: Pre-centered cartridge filament Sample size: 70mm (W) x 50mm (H) X/Y traverse: 35x35mm Auto Image Focus: Auto start, focus and brightness Data Save Format: jpeg, tiff, BMP Data display: includes micron marker, micron value, date and time, image number comments Measurement Software: Point-to-point measurement, text, area markings Resolution: 30nm Available Upgrades: X-Ray Chemical Analysis with data cube, expanded X/Y traverse electronic stage with color camera navigation, sample tilt and rotation accessories.
HITACHI TM-3030 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende Bildgebung mit hoher Tiefenschärfefähigkeit für eine Reihe von Anwendungen von Halbleitern bis zu biologischen Proben bietet. TM-3030 bietet schnellen Probenaustausch mit einem 3-Wege-Probenhalter und einem wartungsfreien, thermisch stabilisierten SE-Detektor für stabile Bildgebung. Eine kalte FEG (Field Emission Gun) -Quelle ermöglicht schnelle, kontrastreiche Bildgebung durch eine Vielzahl von Leistungs- und Beschleunigungsspannungen. Ein automatisches Ausrichtungssystem für Quelle und Detektor bietet eine einfache Einrichtung und Wartung. HITACHI TM-3030 enthält einen großflächigen Detektor für Wide Area Imaging (WAI). WAI bietet große Flächenübersichten bei geringen Vergrößerungen, um Beobachtungszeiten zu reduzieren, ohne die Auflösung zu beeinträchtigen. Eine motorisierte Stufe mit einem X-Y-Weg von 145mm x 100mm ermöglicht ein Hochdurchsatz-Scannen für große Proben oder mehrere interessante Punkte. Mit dem optionalen Farbmappingkanal ist TM-3030 in der Lage, 3D-Farbbilder basierend auf mehreren Komponenten des Signals zu erzeugen. Dadurch können komplexe Strukturen besser visualisiert und detaillierter dargestellt werden. HITACHI TM-3030 verfügt auch über ein eingebautes Partikelanalysesystem, mit dem Partikel in einer Probe identifiziert und vergrößert werden können. Die Software kann Daten über bis zu 1000 Partikel sammeln und liefert Statistiken über Partikeldurchmesser, Fläche, Anzahl und Oberflächenrauhigkeit. TM-3030 wird durch ein benutzerfreundliches, intuitives Softwarepaket gesteuert, das umfassende Bildverarbeitungsfunktionen bietet. Dazu gehören Werkzeuge zur Verbesserung von Kontrast und Helligkeit, Schärfeanpassungen, Histogrammauslesungen, Messungen von Interessengebieten und Bildüberschneidungen. HITACHI TM-3030 ist ein ausgezeichnetes Werkzeug für eine Vielzahl von Anwendungen wie Fehleranalyse integrierter Schaltungen, Probencharakterisierung in der Materialwissenschaft und biologische Probenbildgebung. Dieses leistungsstarke, zuverlässige SEM bietet eine ausgezeichnete Bildauflösung, einen schnellen Probenaustausch und eine einfach zu bedienende Softwaresteuerung.
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