Gebraucht HITACHI VBD-080 #9262191 zu verkaufen

HITACHI VBD-080
ID: 9262191
Scanning Electron Microscope (SEM) With magnetic contactor and control panel.
HITACHI VBD-080 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende, hochvergrößerte Abbildung einer Vielzahl von Oberflächen ermöglicht. Unter Verwendung der Prinzipien der Elektronenoptik, VBD-080 Funktionen durch die Beschleunigung von Elektronen mit einem Wirbelstrom-Elektromagneten, um einen Strahl zu erzeugen, der schnell die Oberfläche abtastet. Dieser Elektronenstrahl interagiert mit der Probe, um ein Bild zu erzeugen, das dann analysiert werden kann. HITACHI VBD-080 ist mit einer hochpräzisen Abtaststufe ausgestattet, die unabhängig voneinander in x-, y- und z-Richtung bewegt und gedreht werden kann. Dadurch kann der Anwender Bereiche der Probe untersuchen, die bisher zu schwer zu erreichen gewesen wären und hochauflösende vergrößerte Bilder erzeugen. VBD-080 ermöglicht maximale Auflösungen von bis zu 1 nm und hat einen Vergrößerungsbereich von bis zu 1X bis zu 500,000X. Neben hervorragenden bildgebenden Werkzeugen und Funktionen bietet HITACHI VBD-080 eine Vielzahl von Analysefunktionen. Dazu gehört die Fähigkeit, ultradünne Filme auf jeder Probenoberfläche zu messen, die Fähigkeit, lokale Eigenschaften einer Probe wie Kristallkorngrenzen, Phasengrenzen, Gewebegrenzen usw. zu finden. Eine breite Palette von Materialien, einschließlich nichtleitender Materialien und biologischer Materialien, werden ebenfalls unterstützt. VBD-080 verfügt auch über eine vollautomatische Benutzeroberfläche, die eine einfache Bedienung und eine Vielzahl von Softwarepaketen ermöglicht, um die Analyse der Probenoberfläche zu unterstützen. Dazu gehören eine Reihe benutzerfreundlicher Anwendungen, zweidimensionale Mappingfunktionen sowie zweidimensionale/dreidimensionale Analysewerkzeuge. Insgesamt ist HITACHI VBD-080 ein hervorragendes, zuverlässiges und benutzerfreundliches Rasterelektronenmikroskop, das unseren Anwendern höchste Auflösungs- und Vergrößerungsqualität mit hoher Genauigkeit bietet und so eine detaillierte Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben ermöglicht.
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