Gebraucht HITACHI VR-16N #9400013 zu verkaufen

HITACHI VR-16N
ID: 9400013
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI VR-16N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Vergrößerung und Analyse des Äußeren einer Probe verwendet wird. Der Sondenelektronenstrahl wird unter Verwendung einer Magnetlinse fokussiert und zur Erzeugung mikroskopischer Bilder auf die Probenoberfläche gerichtet. Das SEM bietet hochauflösende Bilder bis 200 nm, die eine detaillierte Analyse der Oberflächenstruktur ermöglichen. VR-16N ist mit einer Hochleistungs-Elektronenkanone ausgestattet, die einen rauscharmen Einzelelektronenstrahl erzeugt. Eine einziehbare magnetische Linse ist in der Lage, die Größe und Form des Elektronenstrahls an verschiedene Anwendungen anzupassen und bietet eine große Tiefe des Fokus und Arbeitsabstand. Das variable Druckgerät bietet überlegene Bildklarheit bei minimaler Gasstörung. Der modulare Aufbau von HITACHI VR-16N ermöglicht eine genaue Bilderzeugung mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche, einer Vielzahl von Vergrößerungsoptionen und einem automatisierten Muster-Navigationssystem. Die Navigationseinheit sorgt für eine schnelle und einfache Bewegung der Probe von einer Position zur anderen. Die Maschine verfügt auch über eine automatische Probenstufe, mit Vakuumisolierung für verbesserte Leistung und eine robuste mechanische Konstruktion für Stabilität und vibrationsfreien Betrieb. Das Tool verfügt über erweiterte analytische Fähigkeiten, mit zwei oder mehr Kanaldetektoren zur Gewinnung von sekundären und rückgestreuten Elektronenbildern. Darüber hinaus verfügt VR-16N über einen Detect-Asset-Transmissionsdetektor, der die Abbildung sehr dünner Proben ermöglicht. HITACHI VR-16N verfügt über eine fortschrittliche luftgekühlte Säule, die eine überlegene elektronische Leistung und ein hohes Maß an Zuverlässigkeit bietet. Es hat auch einen verbesserten STEM-Modus, der Dual-Beam-Imaging mit seiner gleichzeitigen Detektion von Sekundärelektronen und rückgestreuten Elektronen ermöglicht. Insgesamt ist VR-16N ein fortschrittliches SEM-Modell, das eine überlegene Leistung und ein ausgefeiltes Design bietet, das es ermöglicht, eine überlegene Bildauflösung und ultimative Produktivität zu erzielen. Seine überlegenen analytischen Fähigkeiten und sein robustes Design bieten Anwendern mehr Vertrauen in ihre Forschungsergebnisse.
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