Gebraucht HITACHI WA 1300 #182689 zu verkaufen

HITACHI WA 1300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für die Beobachtung von Makroobjekten entwickelt wurde und ein breites Spektrum an analytischen Möglichkeiten ermöglicht. Es ist als SEM-FIB klassifiziert und kombiniert die Fähigkeiten eines feldemittierenden SEM mit einem fokussierten Ionenstrahl (FIB), um hochauflösende Bilder und analytische Daten zu erstellen. HITACHI WA-1300 verwendet ein einzigartiges zweistufiges Design, das eine Hauptstufe mit einer Feldemissionselektronenquelle, Detektoren und einer Pistolenöffnungslinsenausrüstung sowie eine Sekundärstufe mit einem fokussierten Ionenstrahlinstrument (FIB) umfasst. Dies ermöglicht eine vielseitige Bedienung, so dass das Mikroskop sowohl für die Bildgebung als auch für die Analyse verwendet werden kann. Es ist in der Lage, hochauflösende Sekundärelektronenbilder sowie kompositorische Daten durch energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) zu erzeugen. Die Einbeziehung des FIB ermöglicht auch eine beispiellose Fähigkeit, Proben zu analysieren und ermöglicht hochauflösende Bildgebung, Materialzusammensetzungsanalyse und Nanoproduktion. WA 1300 verwendet ein fortschrittliches Festkörperdetektorsystem, das die Auflösung der SEM-Bildanalyse auf das nanometrische Niveau erhöht. Der Sensor besteht aus vier geteilten Detektoren, die das Signal-Rausch-Verhältnis und die Genauigkeit der Ergebnisse erhöhen. Sie verfügen außerdem über eine integrierte Signalverarbeitungseinheit, die Signalrauschen reduziert und die Auflösung der Bilder maximiert. Darüber hinaus ermöglicht eine automatisierte Stufensteuerungsmaschine eine schnellere und genauere Fokussierung und Abtastung der Proben. WA-1300 können auch Proben mit einer Vielzahl von Vergrößerungen analysieren. Das Mikroskop verfügt über eine automatisierte Scanstufe, die Proben bis zu einem Durchmesser von 300 mm verarbeiten kann und für Probengrößen bis zu 500 mm einfach neu konfiguriert werden kann. Es hat einen optischen Vergrößerungsbereich von 30X - 20,000X, mit einer Auflösung von bis zu 0,05 Nanometern und kann eine Tiefenauflösung von bis zu 50 nm erreichen. Insgesamt ist HITACHI WA 1300 ein fortschrittliches SEM-FIB, das leistungsstarke Analyse- und Bildgebungsfunktionen in einem benutzerfreundlichen Paket bietet. Das Dual-Stage-Design, das umfassende Detektorwerkzeug, die automatisierte Scanstufe und die Vielzahl an Auflösungs- und Vergrößerungsoptionen machen es zu einem idealen Werkzeug für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen.