Gebraucht HITACHI WA 1300 #9243647 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI WA 1300 (SEM) ist ein Hochleistungswerkzeug zur Abbildung, Auswertung und Analyse von Proben auf Nanometerebene. Es ist eine Feldemission SEM mit einer variablen Druckregeleinrichtung, die es für den Einsatz in einer Reihe von Anwendungen wie Probenoberflächencharakterisierung und -analyse, elementare Zusammensetzungsanalyse und 3D-morphological Messungen geeignet macht. Das System ist mit einer Elektronenkanone, Kondensatorlinsen, Abbildungslinsen und einer Probenkammer ausgestattet. Die Elektronenkanone erzeugt einen eng fokussierten Elektronenstrahl, der dann durch die Kondensatorlinsen zur Probenkammer geleitet wird, während die abbildenden Linsen das Bild der Probe erfassen und vergrößern. Die Probenkammer selbst bietet die variable Druckregelung, so dass der Benutzer den Druck einstellen kann, um die optimalen Abbildungs- oder Analyseergebnisse zu erhalten. Die bildgebende Einheit ist sehr vielseitig einsetzbar, mit Funktionen wie hochauflösender Bildgebung, hoher Tiefenschärfe und einer automatisierten Analysemaschine. Die hochauflösende Bildgebung ermöglicht dem Anwender detaillierte Beobachtungen bis zum Sub-Nanometer-Niveau, während die hohe Tiefenschärfe der Bildgebung die gleichzeitige Beobachtung von Merkmalen bis zum 3D-Niveau ermöglicht. Mit dem automatisierten Analysetool können zahlreiche Eigenschaften der Probe schnell identifiziert werden, wie z.B. die Oberflächenrauhigkeit, die wahre Korngröße, die elementare Zusammensetzung und die mikrostrukturellen Merkmale. HITACHI WA-1300 ist in der Lage, in einer Reihe von Bildgebungs- und Analysemodi zu arbeiten, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung (SEI) und rückgestreuter Elektronenbildgebung (BSEI). SEI kann verwendet werden, um die Oberflächenmerkmale einer Probe zu beobachten, während BSEI einen tieferen Blick auf die Strukturen und Elemente innerhalb der Probe bietet. Beide Abbildungsmodi sind sehr vielseitig und können mit anderen Analysefunktionen in einem einzigen automatisierten Prozess kombiniert werden. Darüber hinaus bietet das Asset eine Reihe von Analysefunktionen wie EDS-Röntgenmapping, Partikelgrößenanalyse und Spektralmikroskopie. Das EDS-Röntgenmapping kann dem Benutzer helfen, die elementare Zusammensetzung einer Probe am Analysepunkt zu identifizieren, während die Partikelgrößenanalyse zur Charakterisierung feiner Partikel verwendet werden kann. Die Spektralmikroskopie in Kombination mit dem automatisierten Analysemodell kann detaillierte Informationen über die chemische Zusammensetzung einer Probe liefern und zur genauen Identifizierung und Quantifizierung von Spurenelementen verwendet werden. WA 1300-Geräte sind für eine schnelle und genaue Probenanalyse und Bildgebung konzipiert und bieten dem Anwender ein leistungsfähiges Werkzeug zum Studieren und Verstehen verschiedener Proben auf Nanometerebene. Die Kombination aus Feldemission SEM und variabler Drucksteuerung ermöglicht eine detaillierte Beobachtung und Analyse, während die zahlreichen Bildgebungs- und Analysefunktionen für Forscher in Bereichen wie Materialwissenschaft, Halbleiter und mehr eine Reihe von Optionen bieten.