Gebraucht HITACHI WA 3300 #9240766 zu verkaufen

ID: 9240766
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2007
Atomic Force Microscope (AFM), 12" 2007 vintage.
HITACHI WA 3300 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Bildgebung und Analyse von Materialien und Oberflächen bei hoher Vergrößerung und hoher räumlicher Auflösung. Dieses SEM verfügt über eine einfache Bedienung mit einer intuitiven Benutzeroberfläche sowie eine Vielzahl von leistungsstarken Funktionen, die es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet machen. HITACHI WA3300 wird mit einer Hochleistungswolframglühfadenelektronquelle ausgestattet, die dazu fähig ist, eine robuste Elektronemission mit der ausgezeichneten Helligkeit und Stabilität zu erzeugen. Dies sorgt jedes Mal für Bilder von höchster Qualität. WA-3300 ist mit einem Hochvergrößerungssystem ausgestattet, mit dem Bediener Funktionen bis zu einer Größe von 5 nm abbilden können. Seine fortschrittliche Bildgebungstechnologie und fortschrittliche Elektronik kann auch verwendet werden, um die Bilder zu verbessern, zarte Oberflächenmerkmale aufzudecken und die Fähigkeit zur genauen Messung und Analyse der Probe in einem Nanoskala zur Verfügung zu stellen. WA 3300 verfügt auch über ein leistungsfähiges Filter- und Kontrastverbesserungssystem, das eine bessere Visualisierung von Kontrasten ermöglicht, die wir in hohen Vergrößerungen finden. Die optischen Komponenten in HITACHI WA-3300 SEM weisen eine hohe Stabilität auf und sind darauf ausgelegt, im Laufe der Zeit in guter Ausrichtung zu bleiben. Die Scan-Stufen haben auch eine hohe Genauigkeit und verfügen über eine eingebaute Positioniergenauigkeit von 0,2 mm oder besser. Dies ermöglicht eine präzise Scan- und Fokusregelung auch bei hohen Vergrößerungen. WA3300 enthält auch eine breite Palette von Detektoren. Dazu gehören BSE-Detektor, SE-Detektor und rückgestreuter Elektronendetektor. Darüber hinaus kann HITACHI WA 3300 mit einer Vielzahl von optischen Elementen ausgestattet werden, darunter ein koaxiales Licht, eine Rückenlinse und eine Dunkelfeldlinse. Diese Komponenten können zur Untersuchung von Oberflächenmerkmalen und Zusammensetzung verwendet werden. Neben der überlegenen Bildqualität enthält HITACHI WA3300 auch eine Reihe von Sicherheitsmerkmalen. Dazu gehören eine Fernabschaltbarkeit und ein Schutz vor übermäßiger Elektronenstrahlung. WA-3300 verfügt auch über einen verstellbaren Kameraständer und einen eigenen Computer, der eine Fernbedienung und Datenerfassung der Aktivitäten des SEM ermöglicht. WA 3300 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das leistungsstarke Bildgebungs- und Analysefunktionen, ein hohes Maß an Genauigkeit und Stabilität sowie eine breite Palette von Detektoren und optischen Komponenten für verbesserte Leistung bietet. Diese Flexibilität und Zuverlässigkeit bieten HITACHI- WA-3300 die Fähigkeit, die Anforderungen einer Vielzahl von Labor- und Industrieanwendungen zu erfüllen.
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