Gebraucht HITACHI WB-3100 #293643008 zu verkaufen
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ID: 293643008
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2004
Wafer bump inspection system, 8"
2004 vintage.
HITACHI WB-3100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer breiten Palette von Möglichkeiten für die fortschrittliche Mikroskopie. Es umfasst ein SEM-Bildgebungsgerät, einen EBSD-Detektor (Electron Backscatter Diffraction), eine Feldemissionsquelle und eine Reihe von Bildgebungs- und Detektionstechnologien. Seine erweiterten Funktionen ermöglichen es ihm, genaue hochauflösende Bilder von Proben mit einer breiten Palette von Funktionen zu machen. Die Elektronenquelle WB-3100 verwendet eine Feldemissionskanone, die eine breite Palette von Energieauflösungen ermöglicht und eine hohe Leistung liefert. Das System hat einen Abbildungsstrom von ca. 200 nA bis 100 nA, was eine gute Auflösung der Bilder ermöglicht. Die breite Palette der Waffenenergien bedeutet eine bessere Abbildung verschiedener Arten von Materialien. Das Gerät ist auch mit einem hochauflösenden Detektor in Form einer hochauflösenden Kamera ausgestattet. Dies ermöglicht eine bessere Bildauflösung und einen besseren Kontrast sowie die Fähigkeit, feinere Details in der Probe zu erkennen. Der EBSD-Detektor von HITACHI WB-3100 bietet eine hochpräzise Elektronenbeugungsanalyse von Proben. Dies ermöglicht die Auswertung komplexer Kristallstrukturen und Informationen über deren Chemie. Der EBSD-Detektor kann auch für Dehnungsmessungen, Elementaranalysen und andere erweiterte bildgebende Funktionen verwendet werden. Die SEM-Einheit verfügt zudem über ein breites Spektrum an Zusatzfunktionen. Dazu gehören eine 5-Achsen-Stufe, eine Elektronenbildmaschine sowie eine Reihe von Bildgebungs- und Detektionstechnologien. Die 5-Achsen-Stufe ermöglicht eine genaue Positionierung der Probe, während das Elektronenbildwerkzeug eine Reihe von bildgebenden Techniken ermöglicht, wie Sekundärelektronen und rückgestreute Elektronenbildgebung. Die Bildgebungs- und Detektionstechnologien ermöglichen eine breite Palette von Analysen und Messungen, einschließlich Oberflächentopographie, Elementarkartierung und Röntgenkartierung. WB-3100 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit einer Reihe von Funktionen. Die Feldemissionselektronenquelle, die hochauflösende Kamera und der EBSD-Detektor bieten eine hochauflösende Abbildung verschiedener Merkmale. Die 5-Achsen-Bühnen- und Bildgebungs- und Detektionstechnologien ermöglichen eine breite Palette von Analysen und Messungen. Mit diesen Funktionen ist HITACHI WB-3100 ein leistungsstarkes Werkzeug für fortschrittliche Mikroskopie und Analyse.
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