Gebraucht HITACHI WB-3100 #9256081 zu verkaufen

HITACHI WB-3100 ist eine Art Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Elektronensäule verwendet, um ein Bild einer Probe zu erzeugen. Seine Säule ist mit mehreren Detektoren, wie einem Sekundärelektronendetektor, einem rückgestreuten Elektronendetektor und einem energiedispersiven Röntgendetektor ausgestattet. Dieses SEM weist eine Betriebsspannung von 0,2 bis 30kV und eine spulenförmige Elektronenkanone mit einer Polarisationsblende auf. Es verwendet ein Paar magnetische Linsen, um den Elektronenstrahl auf die Probe zu fokussieren. Es wird auch ein automatischer Füllstandsdetektor implementiert, der eine präzise Fokussierung ermöglicht. Das Instrument hat ein breites Beobachtungsfeld von bis zu 124mm x 86mm. Es bietet auch eine Vielzahl von Vergrößerungen, die von 20x bis etwa 1600x reichen. Mit Hilfe der Feldemissionskanone ermöglicht sie eine schnellere Bildgebung mit stabilem Strahlstrom. Es kommt mit einer innovativen Digitalkamera-Ausrüstung, die mit bis zu zehn Megapixel-Kameras ausgestattet ist. Dies hilft, Bilder mit besserer Auflösung und Farbgenauigkeit zu erfassen. Das Kamerasystem weist ferner eine Bildspeicherfunktion zur Speicherung von Bildern im internen Speicher auf. Das Mikroskop verfügt über eine Hochgeschwindigkeits- und Hochgenauigkeits-Steuereinheit, die ein reibungsloses Scannen mit optimierten Schrittgrößen und Elektronenstrahlwinkeln ermöglicht. Es wird auch eine automatische Ausrichtmaschine implementiert, die den Neigungswinkel zwischen 45 und 60 Grad genau einstellen kann. WB-3100 ist voll benutzerfreundlich, mit interaktiven und umfassenden Bedienfeldern. Es bietet auch eine breite Palette von Funktionen, wie eine automatische Selbstkalibrierung und Wartung Zyklus, eine Fehlerprüfung Modus, eine Probe Neigung Funktion, und eine Vielzahl von vorprogrammierten Betriebsmodi. Das Instrument ist auch mit einem EDS (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer) für die Elementaranalyse ausgestattet. Es verfügt über einen geräuscharmen Detektor, der es dem Instrument ermöglicht, Spurenmengen von Elementen zu erfassen. Schließlich verfügt das Mikroskop auch über einen Schwingungsisolationstisch, der die Schwingungsabsorption durch das Instrument drastisch reduziert und somit eine reibungslose Abbildung gewährleistet.