Gebraucht HITACHI WB-3100 #9273090 zu verkaufen

HITACHI WB-3100
ID: 9273090
Wafer bump inspection system.
HITACHI WB-3100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochpräzise Bildgebung mit erweiterten Analysefähigkeiten verwendet wird. Dieses Mikroskop hat eine hohe Auflösung von 1 nm, so dass es ideal für die Bildgebung und Untersuchung von Mikrostrukturen mit viel Detail. Es ist mit einer großen flüssigen Stickstoff-Kaltstufe ausgestattet, die den Betrieb bei Temperaturen bis -196 ° C und Vakuumbedingungen von 1 x 10-6 Torr ermöglicht. WB-3100 verfügt über eine hochpräzise XYZ-Stufe, die sich ideal für eine präzise Positionierung während der Bildgebung eignet. Diese Stufe verfügt über eine Beugungsoptik und ein On-Axis-Spiegelsystem, das eine überlegene Stabilität bietet und eine hochauflösende Abbildung von Mikrostrukturen mit geringem Speckle-Rauschen ermöglicht. Das Mikroskop verfügt außerdem über eine hochauflösende Ablenklinse, die bei größeren Vergrößerungen eine Bildaufnahme höherer Auflösung ermöglicht. Dieses SEM ist in der Lage, auch kleine Details wie Nanopartikel und Folien bis zu einer Dicke von 5 nm zu erfassen und zu analysieren. Das Mikroskop verfügt auch über ein Impedanzphotometer, das Elektronen aus metallischen und nichtmetallischen Materialien und Proben mit einer hohen Genauigkeit detektieren kann. Darüber hinaus verfügt HITACHI WB-3100 über eine Vielzahl automatisierter Funktionen wie automatisierte Bühnenpositionierung, automatisierte Bühnenbewegungssteuerung, Mikroskopbereichsabtastung und automatisierte Messung. Dieses SEM verfügt über eine benutzerfreundliche Bildgebungssoftware, die eine einfache und effiziente Bedienung ermöglicht. Es ist auch in der Lage, eine Verbindung zu externen Computern für Datenanalyse und Bildspeicherung. Insgesamt ist WB-3100 eine ideale Wahl für die Bildgebung und Analyse von Mikro- und Nanostrukturen mit höchster Präzision. Seine hochauflösende und automatisierte Funktion bietet Anwendern ein optimales Bildgebungs- und Analyseerlebnis.
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