Gebraucht HYPERVISION V 2000 #149304 zu verkaufen

ID: 149304
Backside emission analysis microscopy system Configuration: Probe system: SUSS MicroTec probe station and probe arm Chuck: 8" Automatic control plant TMC anti-vibration pad Microscope system: Objective lens: 5x, 20x, 50x CCD system PC system Power supply system Equipment performance requirement: Wavelength: 605 to 1060nm Installation requirements: Power: 220V ± 10%, 2A, 330W, 50/60Hz GN2: 80 to 100psi Vacuum: 0.8bar.
HYPERVISION V 2000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um eine hochauflösende Abbildung topographischer und leitfähiger Proben zu ermöglichen. Das Mikroskop ist mit einem hochwertigen invertierten Säulensystem ausgestattet, das eine differentielle Pumpstufe umfasst, die in der Lage ist, Hochvakuumbedingungen über eine Vielzahl von Probentypen aufrechtzuerhalten. V 2000 verfügt auch über eine digitale Bildgebungsquelle mit einer speziellen Elektronenkanone und Digitalkameras, die Bildgebungsfunktionen von bis zu 200,000X bietet. Das Mikroskop wird mit einem benutzerfreundlichen Touchscreen-Bedienfeld betrieben und ist sowohl für die routinemäßige als auch für die fortschrittliche Materialanalyse geeignet. HYPERVISION V 2000 hat mehrere bildgebende Modi einschließlich helles und dunkles Feld, sekundäre und rückgestreute Elektronenbildgebung. Es ist auch mit fortschrittlichen automatisierten Analyse- und Bildverarbeitungsfunktionen ausgestattet, einschließlich Histogrammanalyse, 3D-Oberflächenanalyse und automatisierte Partikelgrößen- und Formanalyse. V 2000 ist für den Betrieb unter Kryo-Bedingungen konzipiert und ist mit einer breiten Palette von Manipulatoroptionen ausgestattet, einschließlich 6-Achsen-Manipulator, EDS-Analyse mit fortschrittlicher Datenanalyse und voller Kontrolle über die Schrittweite und hochauflösende energieselektive Bildgebung, so dass Forscher sehr detaillierte elementare und topographische Studien ien durchführen können. HYPERVISION V 2000 bietet viele zusätzliche Funktionen zur Optimierung der Probenanalyse, wie einen intelligenten Strahlablenker, der eine automatisierte Abbildung von Proben ermöglicht, automatisierte Bühnenbewegungen, die eine schnellere Bildgebung und eine verbesserte Effizienz ermöglichen, und eine niedrige kV-Quelle, die die Möglichkeit bietet, extrem niedrige Kammer- und Hintergrundwerte abzubilden. Insgesamt ist V 2000 ein hochfähiges Rasterelektronenmikroskop, das leistungsstarke, hochauflösende Bildgebungsfunktionen, robuste und zuverlässige Leistung unter unterschiedlichen kryogenen Bedingungen bietet und die arbeitsintensive manuelle Analyse reduziert. Es ist ein großartiges Werkzeug für Forscher der Materialwissenschaften und wird sich zweifellos als unschätzbares Werkzeug zur Förderung von Forschung und Analyse erweisen.
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