Gebraucht ISI / AKASHI DS 130C #9080012 zu verkaufen

ISI/AKASHI DS 130C Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches Bildgebungs- und Analysegerät. Das Mikroskop nutzt moderne Rasterelektronenoptik und bildgebende Technologie, um Anwendern eine hochauflösende Bildgebung und Analyse einzelner Nanostrukturen und Eigenschaften im Nanometermaßstab zu ermöglichen. Das System verfügt über eine einstellbare Beschleunigungsspannung in einem Bereich von 0,1 bis 30 kV und eignet sich somit für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen. Das SEM verfügt über eine hochauflösende Eucentric-Säule mit ausgezeichneter geometrischer Stabilität und hochauflösender Bildgebungsfähigkeit. Hochauflösende SEM-Bilder werden mit einer Kombination aus digitalen Bildgebungstechniken und Bildverarbeitungsalgorithmen erzeugt, was zu optimierten Bildern mit extrem hohem Kontrast und Auflösung führt. Das SEM verwendet Weitwinkelpistole und Feldemissionsquellentechnologie, um ein helles, gleichmäßiges Bild auch bei niedrigen Beschleunigungsspannungen zu liefern. Eine Vielzahl von Detektorkonfigurationen, wie sekundäre Elektronen (SE) Bildgebung, In-Linsen-SE und rückgestreute (BSE) Elektronenbildgebung und Energie-dispersive Röntgenspektrometrie (EDS) Analyse wird vorgestellt. Die SE- und BSE-Bildgebungsdetektoren sind mit einer Ar-Ionen-Waffenquelle zur Nachwaschreinigung ausgestattet. Zur Optimierung der Probenhandhabung im SEM kann die Stufe durch eine automatisierte motorisierte Antriebseinheit in einem weiten Winkelbereich und XY-Koordinaten bewegt werden. Adapter in verschiedenen Größen können zum Anbringen von Probenhaltern verwendet werden, und ein Probenladebereich ist auf der Vorderseite der Maschine enthalten. Autofokus-Funktionalität ist auch verfügbar, um eine optimale Bildqualität bei Änderungen in der Probenumgebung zu erhalten. ISI DS 130C SEM bietet neben seinen Bildgebungs- und Probenmanipulationsmöglichkeiten eine Reihe von Analysefunktionen, die Anwendern detaillierte Zusammensetzungs- und Strukturinformationen bieten. Dazu gehören erweiterte EDS mit Röntgenmapping-Fähigkeiten, chemische Bildgebung, Phasenanalyse und Kathodolumineszenzmessungen. Das kompatible Zubehör und die Software reichen von einem Low-Vakuum-Scan-Modul über eine automatisierte Bühnensteuerung bis hin zu verschiedenen Probenhaltern und Elektronendetektoren. Eine breite Palette von Analyse-Software ist auch verfügbar, bietet leistungsstarke Bildanalyse, statistische Analyse und 3D-Rekonstruktion Werkzeuge. AKASHI DS 130C SEM ist aufgrund seiner einstellbaren Beschleunigungsspannung, der hochauflösenden Bildgebungsfunktionen und einer breiten Palette an Analysezubehör und Software eine ideale Plattform zur Bildgebung und Analyse von Nanostrukturen und Eigenschaften im Nanometermaßstab. Das leistungsstarke und automatisierte Design macht es zur perfekten Wahl für ein breites Spektrum an Forschungs- und Industrieanwendungen.