Gebraucht ISI / AKASHI DS 130C #9119618 zu verkaufen

ISI / AKASHI DS 130C
ID: 9119618
Scanning electron microscope, (SEM).
ISI/AKASHI DS 130C ist ein anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit großem Sichtfeld und überlegener Bildauflösung. Es ist mit einer koaxialen Beleuchtungsausrüstung und einem hochempfindlichen Kamerasystem für hervorragende Bildgebungsleistung ausgestattet. Das SEM ist in der Lage, ein TEM-Raster (Full Transmission Electron Microscope) mit einer Auflösung von bis zu 2nm zu scannen. Das Gerät bietet eine hervorragende chromatische und topographische Datenanalyse, so dass Anwender wertvolle Erkenntnisse zur Materialforschung gewinnen können. Das SEM bietet eine Vielzahl von Probenstufen und einstellbare Vergrößerungen von 2.5x bis 52.5x. Es kann auch in einer Vielzahl von Arbeitsabständen von wenigen Nanometern bis zu mehreren Mikrometern eingesetzt werden. Die Maschine ist mit einer Ultra-Low-Vakuum-Abtastkammer und einer rauscharmen Abtaststufe zur Minimierung von Abtastfehlern ausgestattet. ISI DS 130C verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche und bietet erweiterte Funktionen für die Bildaufnahme, Verarbeitung und Analyse. Es enthält auch einen leistungsstarken Hellfeld- und Dunkelfeld-Analysemodus, um lokalisierte Probenmerkmale zu erkennen, sodass Benutzer eine detaillierte Ansicht von Proben erhalten können. Die digitale Akquisition des Tools ermöglicht Erfassungen mit höherem Durchsatz und Auflösung. Es kann bis zu 16 Bilder desselben Exemplars in verschiedenen Vergrößerungen speichern und Bilder können entweder im JPEG- oder TIF-Format gespeichert werden. Das SEM verfügt außerdem über ein integriertes Autofokus-Modell und passt den Fokus automatisch an die ausgewählten Probenparameter an. Neben der SEM-Analyse können die Geräte auch für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) eingesetzt werden. Der vorgesehene Mikrotomaufsatz unterstützt das Schneiden dünner Proben für die TEM-Analyse. Die Anlage kommt auch mit einem zusätzlichen Anhang für ultraviolette Strahlungsanalyse, so dass es für eine breite Palette von Materialforschung geeignet. AKASHI DS 130C ist ein zuverlässiges SEM, das für eine Vielzahl von Forschungsaufgaben ausgestattet ist. Die intuitive Benutzeroberfläche und die umfassenden Bildgebungsfunktionen machen es zur idealen Wahl für selbst komplexeste Aufgaben.
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