Gebraucht ISI / AKASHI DS 130F #9080013 zu verkaufen

ISI/AKASHI DS 130F Rasterelektronenmikroskop ist ein vielseitiges Werkzeug, das in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieumgebungen eingesetzt wird. Es bietet eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten und ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Anwender. ISI DS 130F Rasterelektronenmikroskop ist für eine Vielzahl von analytischen Zwecken konzipiert. Zu den Hauptmerkmalen gehören hochauflösende Bildgebung, großer Arbeitsabstand und geringe Rauschleistung. Die hochauflösende Bildgebung ermöglicht Kristallgitterbildgebung bis zu 30nm, perfekt für die Materialmikrostrukturanalyse. Es ermöglicht auch die Abbildung von winzigen Oberflächenmerkmalen und Strukturen mit dreidimensionalen Fähigkeiten. Mit einem großen Arbeitsabstand bis 6,5 mm bietet dies präzise Positionierungs- und Navigationsmöglichkeiten. Die geringe Rauschleistung garantiert eine genaue und zuverlässige Datenerfassung. AKASHI DS 130F Rasterelektronenmikroskop verfügt über verschiedene Betriebsmodi wie Punktbildgebung, Linienbildgebung und 3D-Analyse mit 2D bis 3D-Addition. Punktbildgebung ermöglicht es dem Mikroskop, topographische Merkmale mit hoher Sichtbarkeit und Klarheit anzuzeigen. Linienbildgebung erzeugt kontrastreiche flache Bilder mit scharfen Kanten. 3D-Analyse erfasst Oberflächenmerkmale und Strukturen in einer 3D-Darstellung für genauere Ergebnisse. DS 130F Rasterelektronenmikroskop bietet auch benutzerfreundliche Funktionen. Es ist mit einer Vielzahl von Zubehör ausgestattet, um seine Effizienz zu erhöhen und Benutzern wie Gaseinspritzsystem, Hochgeschwindigkeits-Bilderfassung und benutzerfreundliche Software zu helfen. Das Gasstabilisierungssystem ermöglicht die Probenkontrolle und hält die richtigen Probenbedingungen aufrecht. Die Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme ermöglicht eine schnelle und gleichzeitige Bildgebung und Analyse von Proben. Die benutzerfreundliche Software garantiert eine benutzerfreundliche Steuerung und Bedienung mit Leichtigkeit. ISI/AKASHI DS 130F Rasterelektronenmikroskop bietet überlegene Leistung und Präzision. Sein robustes Design und seine fortschrittlichen Fähigkeiten machen es zu einem wünschenswerten SEM-Modell für eine breite Palette von Forschungs-, Industrie- und Bildungsanwendungen. Dieses Rasterelektronenmikroskop bietet beispiellose Leistung für genaue, zuverlässige und überlegene Bildgebung und Analyse von mikroskopischen Proben.