Gebraucht ISI DS 130B #9308918 zu verkaufen

ISI DS 130B, hergestellt von ISI Atomscan Instruments, ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es ist eine Art Elektronenmikroskop, das einen fokussierten Elektronenstrahl verwendet, um eine Probenoberfläche abzutasten und ein sekundäres Elektronensignal zu erzeugen, das verwendet wird, um ein hochauflösendes Bild der Probe zu erzeugen. DS 130B ist mit einer 3-Achsen-motorisierten X-Y-Stufe ausgestattet, die eine präzise Probenpositionierung ermöglicht. Es hat einen einstellbaren Elektronenstrahlstrom von bis zu 20mA, 200V - 2kV Beschleunigungsspannung und einen hohen Sekundärelektronensignalausgang. Es stehen verschiedene Betriebsarten wie SE, BSE oder ESEM (Environmental Scanning Electron Microscopy) zur Verfügung. ISI DS 130B bietet dank seines elektronischen Kontrastes ein hochdetailliertes Oberflächentopographiebild mit einer Auflösung von bis zu 2nm. Die mit seinem SE-Detektor erhaltenen Bilder besitzen eine verbesserte Auflösung, die durch ihren BSE-Detektormodus weiter verbessert wird. DS 130B ist mit einem Piezo Lift Prober mit torgesteuerter Hubhöhe und Scanbereich ausgestattet, der zuverlässige und präzise Messungen ermöglicht. Der Piezo Lift Prober wurde entwickelt, um die Störung der Probe zu minimieren und gleichzeitig die höchste Genauigkeit während des Betriebs zu erhalten. Funktionen wie Autofokus, automatische Ausrichtung und Bildnähte machen ISI DS 130B auch zu einer ausgezeichneten Wahl für topographische Bildgebung wie Waferanalyse. Zusätzlich erhöht der AppHeater™ Probenhalter die Probensicherheit und minimiert die Partikelverunreinigung während der Probenvorbereitung. DS 130B ist ein zuverlässiges und einfach zu bedienendes Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung von Proben. Es hat extreme Genauigkeit für präzise Messungen, und seine Betriebsmodi garantieren ein hochwertiges Sekundärelektronensignal auch für komplexe Proben.