Gebraucht ISI SS40 #114649 zu verkaufen

ISI SS40 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges Instrument für eine breite Palette von hochauflösenden bildgebenden und elementaren Analyseanwendungen. Seine bemerkenswerteste Eigenschaft ist seine Fähigkeit, Bilder mit Auflösungen bis zu 0,5 nm zu produzieren, so dass es die High-End-Wahl für nanoskalige Bildgebung und Analyse. Im Kern des SEM befindet sich eine Elektronenquelle - eine Filament- oder Feldemissionskathode. Diese emittiert einen Elektronenstrom, der über die in der Probenkammer fixierte Probe abgetastet wird. Da diese Elektronen mit der Probe wechselwirken, wird ein sekundäres Elektronensignal vom Detektor des SEM emittiert und detektiert. Diese Signale werden verstärkt und auf dem Monitor des SEM angezeigt, um die Probe zu visualisieren. Das SEM verfügt auch über eine Reihe von Detektoren, die es dem Benutzer ermöglichen, die Eigenschaften der Probe besser zu verstehen. Dazu gehören ein Sekundärelektronendetektor und ein energiedispersiver Röntgenspektroskopiedetektor, die beide elementare Informationen der Probe liefern können. Die ISIS- SS40 bietet auch eine Auswahl an elektronenoptischen Spalten - von einer Standardsäule bis hin zu fortschrittlicheren Mittelhochspannung (MV) -Säule -, die unterschiedliche Vergrößerungsmengen sowie eine verbesserte Auflösung ermöglichen. Das SEM ist auch mit Bildaufnahmesoftware (ICS) ausgestattet, die die Aufnahme von hochauflösenden Bildern, Videos und quantitativen Messungen der Probe ermöglicht. Es verfügt über ein Echtzeit-Bildverbesserungswerkzeug, das eine einfache Bearbeitung von Bildern für eine klare Visualisierung von Strukturen ermöglicht. Das kompakte und ergonomische Design von ISI SS40 ermöglicht einen einfachen Transport und Aufbau in Forschungslabors. Das Instrument verfügt über eine höhenverstellbare Bühne, eine Reihe von Vergrößerungseinstellungen und eine Reihe von austauschbaren Linsen, so dass es leicht für verschiedene Arten von Proben und Experimenten anpassbar ist. Für diejenigen, die ein High-End-SEM mit der Vielseitigkeit, Zuverlässigkeit und hohen bildgebenden Fähigkeiten suchen, ist SS40 Rasterelektronenmikroskop eine ideale Wahl. Mit seinen hochauflösenden Bildgebungs- und Elementaranalysefähigkeiten ermöglicht es Benutzern, ein besseres Verständnis der Proben zu erlangen, die sie darunter setzen.