Gebraucht ISI SS40 #293799644 zu verkaufen

Der JEOL JSM-7001F ISI SS40 ist eine Hochleistungsfeldemission, Elektronmikroskop (FE-SEM) scannend. Es ist in der Lage, hochauflösende Bildgebung (1.5nm) über große Sichtfelder. Das SEM weist ein In-Column-Energiefilter und ein eingebautes Elektronenenergieverlustspektrometer (EELS) für die chemische Zusammensetzungsanalyse sowie einen eingebauten Szintillationsdetektor für die Rückstreuelektronenbildgebung (BSE) auf. SS40 verwendet eine fortschrittliche FE-Pistole für hohe Kontrast- und Auflösungsbilder. Dies basiert auf einer geschlossenen Extraktorausrüstung und permanenten Fokussierspulen, um die Stabilität der Pistole zu erhalten. Die Probenkammer und die Proben werden im Vakuum gehalten, so dass dieses Mikroskop bei Bedarf im Ultrahochvakuum (UHV) arbeiten kann. Für die Probenmanipulation verfügt ISI SS40 über eine Musterstufe mit xyz-Antriebsantrieben, die einen vollen Bewegungsbereich bietet. Für die Bildgebung hat SS40 einen In-Column-Energiefilter und AALEN eingebaut. Gemeinsam können sie die Energiedispersive Spektroskopie (EDS) und die Wellenlängendispersive Spektroskopie (WDS) analysieren. Das In-Column-Filter liefert sowohl im Licht- als auch im Dunkelfeldmodus ein kontrastreiches Bild der Probe. Der AALEN-Detektor ist an der Säulenbasis angebracht und kann sowohl Spektren erfassen als auch 2D-Karten der Probe erstellen. ISI SS40 enthält auch einen rückgestreuten Elektronendetektor, um BSE-Bilder zu erzeugen. Dieser Detektor ist in der unteren Kammer angeordnet und ist in der Lage, aus einer Probe gestreute Elektronen mit einem hohen Wirkungsgrad zu detektieren. Mit diesem Detektor können Benutzer kontrastreiche Bilder der Probe erstellen. Schließlich verfügt SS40 über eine automatisierte Vakuumregelung, um den optimalen Betriebsdruck aufrechtzuerhalten. Diese Einheit bietet Echtzeit-Überwachung des Kammerdrucks und verwendet eine computergestützte Wartungs-Maschine, um Wartungs- und Reinigungsbedarf rechtzeitig anzuzeigen. Insgesamt ist ISI SS40 ein leistungsstarkes und vielseitiges Feldemissionsrasterelektronenmikroskop. Es ist in der Lage, hochauflösende Bildgebung und AALEN, WDS und BSE-Analyse, um ein umfassendes Verständnis von komplexen Nanomaterialien zu liefern.