Gebraucht ISI SS40 #36254 zu verkaufen

ISI SS40 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein analytisches Instrument zur hochauflösenden Bildgebung in den Bereichen Materialwissenschaft, Biowissenschaften und mehr. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Proben abzubilden, von makroskopischen bis nanoskopischen Skalen, und die Messung von Merkmalen bis zum atomaren Niveau. Das SEM verwendet unkonzentrierte Elektronenstrahlen, die von einer Wolframfadenquelle emittiert werden, die von der Oberfläche der Probe und auf den Detektor streuen. Die Abbildung erfolgt in einer Vakuumumgebung, die es den Elektronen ermöglicht, die Probe ungestört zu durchlaufen. Durch Beobachtung der Wechselwirkungen zwischen dem Strahl und der Probe können Bilder mit molekularem Detail gewonnen werden. SS40 SEM ist mit einer aberrationskorrigierten Elektronenlinse ausgestattet, die eine direkte Abbildung feiner Merkmale im Sub-50 nm-Bereich ermöglicht. Es verfügt auch über einen erweiterten Pixcel-Detektor für hervorragende Empfindlichkeit und Signal-Rausch-Verhältnis. ISI SS40 ist sowohl für analytische als auch für bildgebende Anwendungen optimiert und nutzt sein breites Spektrum an Merkmalen für die Analyse von Oberflächenmerkmalen, Chemie, Topographie, Zusammensetzung usw. Es verfügt über einen algorithmengestützten analytischen Merkmalsmessdetektor (AFMD) mit integriertem Bildnahtsystem. Die AFMD ist in der Lage, die Lage des Feinmerkmals genau zu messen und sowohl in der Ebene als auch außerhalb der Ebene Kristallorientierungen zu messen. Zusätzlich können SS40 korrelative Abbildungsmodi vorsehen, wobei eine gleichzeitige Abtastelektronen- und spektroskopische Abbildungen erhalten werden können. ISI SS40 enthält viele weitere Funktionen, die speziell für mehr Effizienz, Genauigkeit und Komfort entwickelt wurden. Es verfügt über ein automatisiertes, vakuumarmes Ausrichtungssystem mit automatisierten Stufenanpassungen und eine eingebaute Mikrowellen-Plasmaquelle für Sputter- oder Reinigungsvorgänge. Es umfasst auch eine automatisierte Sampler-Schnittstelle und eine ergonomische Benutzeroberfläche, komplett mit „Easy Access“ Touch-Control und Grafikschnittstellen. SS40 ist ein unglaublich leistungsfähiges Instrument zur Erforschung nanoskaliger Merkmale und Prozesse. Von analytischen und bildgebenden Funktionen bis hin zu automatisierten Werkzeugen und Systemen ist ISI SS40 so konzipiert, dass es eine hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben ermöglicht.