Gebraucht ISI SX 30E #293631578 zu verkaufen

ISI SX 30E Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches Werkzeug für die Forschung in Materialien und biologischen Wissenschaften. Es ermöglicht es Forschern, hochauflösende Bilder von Proben auf der Nanoskala zu erfassen. SX 30E verfügt über eine Wolfram-Filament Röntgenquelle und digitale Bildverarbeitung. Mit seiner großen Schärfentiefe ermöglicht die SX eine hochgenaue SEM-Bildbildung. Das Gerät bietet eine erweiterte Palette von Abtastmodi, einschließlich Rückstreuelektronenbildgebung (BSE), Sekundärelektronenbildgebung (SE) und Sekundärelektronenbildgebung (SEM). Es bietet auch eine einstellbare Vergrößerung von 2.000x bis 30.000x. Darüber hinaus bietet ISI SX 30E eine verbesserte Elektronenoptik und eine eingebaute Antriebskammer. Letztere bietet eine glatte und genaue Probenbewegung, während die optimierte Elektronenoptik die Elektronenstrahlstabilität verbessert und die Bildgebungsleistung optimiert. Dies macht es ideal für die Forschung, die viel Bildgebung erfordert. SX 30E ermöglicht es Benutzern, Daten in Echtzeit oder nach dem Prozess zu erfassen, um die Bildqualität weiter zu verbessern. Der Echtzeit-Modus bietet „live“ -Bilder, die die Steuerung von Probenbereichen und -bedingungen während der Bilderfassung ermöglichen. Der Post-Processing-Modus ermöglicht es Benutzern, Bilder für höhere Auflösung und tiefere Analyse zu optimieren. Die von ISI SX 30E erzeugten Bilder weisen genaue Oberflächenmorphologien und Kristallstrukturen auf. So können Forscher komplexe Strukturen von Proben wie Metallen, Keramiken und Legierungen untersuchen. Ferner können Bilder auch zur bildgebenden Analyse verwendet werden, wie z.B. die elementare Kompositionsanalyse. SX 30E ist in verschiedenen Modellen erhältlich und ist mit Windows, Linux und Mac Betriebssystemen kompatibel. Um das Gerät zur Bildgebung und Datenerfassung nutzen zu können, sind ein spezialisierter PC und Display erforderlich, die beide vom Hersteller erhältlich sind. Zusammenfassend ist ISI SX 30E ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit mehreren erweiterten Funktionen. Es ist ein ideales Werkzeug für die Herstellung von hochauflösenden Bildern und die Durchführung der bildgebenden Analyse von nanogroßen Proben.