Gebraucht ISI SX 40 #154782 zu verkaufen

ISI SX 40 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien konzipiert ist. Es verfügt über ein vollautomatisches System für Scannen, Bildgebung und Analyse. Es verfügt über ein niedriges kV-Bildgebungssystem für erhöhte Bildauflösung und -kontrast sowie eine große Schärfentiefe für die genaue Abbildung dickerer Proben. Es hat auch einen hochauflösenden digitalen Detektor für maximale räumliche Auflösung und Kontrast. Dieses SEM ist mit der neuesten bildgebenden Technologie ausgestattet, einschließlich eines hochauflösenden energiedispersiven Spektrometers (EDS) und eines hochauflösenden Sekundärelektronendetektors (SE). Das SEM verfügt über zwei hochauflösende Stufen, darunter eine XY-Stufe zur Unterstützung großer Proben und eine hochauflösende Neigungs- und Drehstufe. Die XY-Stufe hat einen Bereich von 2,2 mm × 3,2 mm und einen Neigungsbereich von -15 bis + 15. Es ist auch mit einem eingebauten variablen druckgesteuerten Probenhalter ausgestattet. Die Kipp- und Rotatorenstufe ist für Proben bis zu 4mm Dicke und mit einer Probengröße von 6mm × 6mm ausgelegt. Beide Stufen zeichnen sich durch hervorragende Präzision und Wiederholbarkeit aus. ISI SX40 ist mit einem Softwarepaket zur Steuerung des Mikroskops ausgestattet. Es beinhaltet eine leistungsstarke Bildgebungs- und Analyseumgebung, mit der Forscher ihre Proben detailliert analysieren können. Das Softwarepaket umfasst auch ein Bilderfassungssystem sowie Werkzeuge für die Mikroanalyse. Das SEM ist vollautomatisiert und ermöglicht die sehr effiziente und einfache Erfassung von Bildern und Daten aus dem Mikroskop. Die im Softwarepaket enthaltenen Dienstprogramme können zur weiteren Analyse, einschließlich Entfernungs- und Flächenmessungen, sowie zur Bildverbesserung verwendet werden. Die eingebauten Bildgebungswerkzeuge ermöglichen auch die Extraktion detaillierter Informationen aus dem Bild und den Daten. SX 40 ist ein zuverlässiges, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop, das für hochauflösende Bildgebung und Analyse ausgelegt ist. Es ist ein ideales Werkzeug für die Analyse einer breiten Palette von Materialien und Proben. Es verfügt über eine Reihe von Funktionen, die es zu einem vielseitigen bildgebenden Werkzeug machen, mit einem leistungsfähigen Softwarepaket zur Steuerung des Mikroskops und zum Sammeln von Daten sowie bildgebenden und Analysewerkzeugen.