Gebraucht ISI SX 40 #9114412 zu verkaufen

ID: 9114412
Wafergröße: 5"
Scanning electron microscope Motorized stage, 5".
ISI SX 40 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von industriellen, medizinischen und Forschungsanwendungen entwickelt wurde. Es bietet durch seine hochmoderne Elektronenoptik eine überlegene Bildgebungsleistung in Nieder- und Hochvakuumzuständen. Es hat eine dokumentierte Auflösung von 1.2nm @ 30kV und 3nm @ 30kV, was beim Scannen von Beispielen zu einem sehr hohen Detaillierungsgrad führt. ISI- SX40 ist in der Lage, sowohl sekundäre als auch rückgestreute Elektronenbilder abzubilden, was bedeutet, dass es eine Vielzahl verschiedener Probenkomponenten detektieren kann. Sekundärelektronen zeigen Informationen über die Oberflächenelemente, während rückgestreute Elektronen Informationen über die Probenzusammensetzung und -phase liefern. SX 40 verfügt außerdem über ein optionales EDS-System zur energiedispersiven Röntgenspektroskopie von Proben. Dadurch können verschiedene elementare Zusammensetzungen von Proben analysiert werden. SX40 verfügt über eine Stufenbereichspositioniergenauigkeit von 3 µm - 5 µm bei Mikrometerbewegungen entlang der Achsen X, Y und Z ohne manuelle Einstellung. Es ist über die ISI RoboInvestor Software Suite steuerbar, die eine Vielzahl von Befehlen und Einstellungen für eine präzise Probenanalyse ermöglicht. Dazu gehören automatische Ablenker und Scans, einstellbare Spannungskalibrierung, Echtzeit-Scans sowie Bilderfassung und Vergleich. ISI SX 40 verfügt über einen automatisierten Probenwechsler, mit dem bis zu 250 Proben schnell und einfach ausgetauscht und nacheinander analysiert werden können. Es verfügt auch über einen 9 "-Darstellungsbereich, der ergonomisch für erweiterte Betrachtungssitzungen bei der Beobachtung von Beispielbildern konzipiert ist. Insgesamt ist ISI SX40 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop. Seine Vielseitigkeit, einfache Einrichtung und genaue Leistung machen es zu einem perfekten Werkzeug für Industrie- und Forschungsanforderungen.
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