Gebraucht JAM 7000f #9243703 zu verkaufen

JAM 7000f ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für bildgebende und mikroskopische Anwendungen. Das Gerät verfügt über eine außergewöhnlich hohe Leistung für eine einzelne Säule, da es über eine gekrümmte Anodenfeldemissionskanone mit einer Beschleunigungsspannung bis zu 30 kV, einer Verweilzeit bis zu 1 µs und einem Einfallswinkel bis zu 85 ° verfügt. Die fortschrittliche Ultramikrotomie-Ausrüstung ermöglicht die Probenvorbereitung mit einer Dicke von bis zu 0,5 µm. Seine automatisierte Stufe ermöglicht das Scannen mit ultrahoher Geschwindigkeit und Genauigkeit. Die Elektronenoptik des 7000f-Mikroskops besteht aus einer Säule aus drei Linsenöffnungen und zwei Sätzen Objektivlinsen. Die Säule ist für geringe Aberration ausgelegt, wodurch scharfe Bilder mit einer ausgezeichneten Auflösung von 0,8 nm gewährleistet sind. Ein optionales elektrostatisches Strahlabtastsystem hilft, größere Proben effizient abzubilden. Die Morphologie von Proben wird in einer Umgebungs-SEM-Kammer mit Temperaturregelung bis 55 ° C und relativer Feuchtigkeitskontrolle bis 95% untersucht. Außerdem ist es mit einer Energy Dispersive Microscopy (EDX) -Einheit ausgestattet, um die chemische Zusammensetzung der Proben zu analysieren. Gamma-Strahlendetektoren und eine Faraday-Tasse machen JAM 7000f zu einem wirklich vielseitigen, porösen Werkzeug. Die Maschine ist mit einem dedizierten PC verbunden, der mit spezieller CAM500 Bildsoftware geladen ist, um hohe Kontrast- und Auflösungsbilder zu gewährleisten. Die benutzerfreundliche Oberfläche dieser Software ermöglicht einfache Probenahmen, Oberflächenreinigung und Ätzvorgänge. Insgesamt ist 7000f ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von Proben. Sie ermöglicht es, detaillierte Informationen über die physikalische Struktur, die chemische Zusammensetzung sowie die Oberflächentopographie von Proben zu erhalten.