Gebraucht JAM 7001f #9243701 zu verkaufen

JAM 7001f
ID: 9243701
Scanning Electron Microscope (SEM) With Windows 10.
JAM 7001f ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das einen fokussierten kleinen Teilchenstrahl von Elektronen verwendet, um eine digitale Abbildung einer Oberfläche zu erreichen. Unter Verwendung von Sekundärelektronen (SE) -Bildgebung, rückgestreuten Elektronen (BSE) und Transmissionselektronen (TE) -Bildgebung bietet 7001f eine leistungsstarke mikroskopische Analyse von Proben bei bis zu 100,000X Vergrößerung. JAM 7001f hat eine monochromatische Elektronenkanone, die einen hoch fokussierten Fleck von etwa 1 Nanometer Durchmesser erzeugt. Wenn dieser Elektronenstrahl über die Oberfläche eines Objekts abgetastet wird, erzeugt er Signale, die den Eigenschaften der Probe entsprechen. SE-Bilder zeigen atomare Eigenschaften wie Elektronenabgabe, während BSE-Bilder Atomzahlkontrast zeigen und TE-Bilder Atompositionen bieten. Dadurch kann das SEM selbst kleinste Details einer Probenoberfläche abbilden. Die genScan-Funktion von 7001f ermöglicht ein automatisiertes Scannen des gesamten Objekts und bietet eine noch umfassendere und detailliertere Analyse. Darüber hinaus ermöglicht das automatisierte Mustererkennungswerkzeug genXR die effiziente Erfassung qualitativer und quantitativer Daten. JAM 7001f ist eines der modernsten und zuverlässigsten bildgebenden Systeme, das eine qualitativ hochwertige bildgebende Auflösung und unübertroffene Empfindlichkeit bietet. Das Mikroskop verfügt auch über eine vollständig umschlossene Probenkammer, verbesserte Vakuumpumpen und eingebaute Probenhalter, die eine bessere Stabilität, Abschirmung und Schutz von Proben bieten. 7001f verfügt auch über ein offenes Software-Design, mit dem Benutzer automatisierte Schnittstellen von Tools, Datenbanken, 3D-Volumendaten sowie benutzerdefinierte Algorithmen integrieren können. Es enthält auch die ImageVision™ Bildverarbeitungssoftware mit erweiterten Bildverarbeitungs-, 3D-Bildwiedergabe- und Stapelverarbeitungsfunktionen. Zusammenfassend ist JAM 7001f eine ausgezeichnete Wahl für diejenigen, die hochauflösende Bildgebung, präzise Merkmalsmessung und umfassende Analyse benötigen. Mit automatisiertem Scannen, robustem Hardwaredesign und leistungsstarker Bildgebungssoftware ist 7001f eine ideale Wahl für eine Vielzahl von SEM-Anwendungen.
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