Gebraucht JAM JSM 7000F #9260023 zu verkaufen

JAM JSM 7000F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Beobachtung von Oberflächenmerkmalen und Zusammensetzung kleiner Proben in einer Vielzahl von Forschungseinstellungen. Dieses Instrument ist in der Lage, extrem hochauflösende Bilder auf atomarer Ebene zu erzeugen. Es hat eine Vielzahl von Funktionen, die es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen machen. JSM 7000F hat eine effektive Probenahmefläche von 11 cm2 und eine Auflösung zwischen 0,2 und 50 nm. Es hat eine Beschleunigungsspannung von bis zu 10 kV, was eine scharfe Abbildung und hohe Empfindlichkeit ermöglicht. Das Mikroskop ist außerdem mit einem In-Linsen-Elektromagnetfeld (EMF) -Detektor ausgestattet, der die Detektion von Niedrigenergiesignalen verbessert und Rauschen reduziert. Der Strahlstrom ist auch einstellbar, so dass Benutzer Bilder mit extrem hohem Kontrast und Detail erhalten. Das Mikroskop verfügt zudem über ein einachsiges, manuell einstellbares, zweistufiges Magnetlinsensystem, das es ermöglicht, maximale Auflösung und geeignete Abbildungsergebnisse zu erzielen. Darüber hinaus ermöglicht das Scanleitersystem die gleichzeitige Erfassung mehrerer Bilder mit unterschiedlichen Vergrößerungseinstellungen. Mit diesem System kann auch die Abtastgeschwindigkeit und die Dauer der Signalerfassung gesteuert werden. JAM JSM 7000F ist mit einer ASE-Funktion ausgestattet, die es ermöglicht, Proben schnell, genau und sicher von einem Halter zum anderen auszutauschen. Der ASE kann für Proben verwendet werden, die sowohl Luft- als auch Flüssigkeitskühltechniken erfordern. Dieses Merkmal ermöglicht auch die Analyse verschiedener Arten von Elementen und Materialzusammensetzungen. Der eingebaute Detektor kann Bilder in Hell- oder Dunkelfeld-Einstellungen erzeugen. Darüber hinaus kann der Einsatz eines EBSD-Detektors (Electron Backscatter Diffraction) auch zur Verarbeitung und Analyse von Bildern verwendet werden, wodurch Forscher die kristallographische Orientierung jeder Probe verstehen können. Insgesamt bietet JSM 7000F einzigartige Bildgebungs- und Analysefunktionen. Es hat reduzierte Elektronenstrahl-Bestrahlung und automatisierten Probenaustausch Fähigkeiten, zusammen mit hochauflösenden Bildgebung. Dies macht es zu einer Top-Wahl für die Analyse von kleinen Proben in einer Vielzahl von Forschungseinstellungen.