Gebraucht JEOL 100 / 200 Series #9192825 zu verkaufen

JEOL 100/200 Series ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen entwickelt wurde. Die Serie 100/200 ist mit einem hochvergrößerten Feld-Emissionsrasterelektronenmikroskop ausgestattet, das eine hochauflösende Abbildung und Analyse von Komponenten bis zu 1 nm ermöglicht. Sie eignet sich besonders gut für Anwendungen wie Mikrostrukturanalyse, Oberflächenmorphologie-Beobachtung und -Analyse sowie kompositorische Kartierung und ermöglicht es Forschern, Form und Größe von nanoskaligen Objekten klar zu beobachten. JEOL 100/200 Serie ist auch mit einem energiedispersiven Röntgenenergiespektrometer ausgestattet, um die Zusammensetzung der analysierten Partikel zu analysieren und eine genaue Elementzusammensetzung von Partikeln und Materialanalyse zu ermöglichen. Darüber hinaus können 100/200 Serie auch Elektronenstrahl-Lithographie durchführen, die verwendet wird, um Nanostrukturen zu bauen. Es kann Muster auf der Oberfläche der Probe mit dem Strahl bis zu 1 nm Größe herstellen, so dass nanoskalige Herstellung von Komponenten. Die JEOL 100/200 Serie wird über eine eigene Workstation gesteuert und ermöglicht eine intuitive Manipulation des SEM. 100/200 Serie ist ein effektives Werkzeug für die Durchführung von Forschung und Analyse an winzigen Komponenten. Mit seiner hochauflösenden Bildgebung, der exakten energiedispersiven Röntgenspektrometrie und der hochauflösenden Elektronenstrahl-Lithographie kann es die Strukturen und Zusammensetzung von Objekten so klein wie 1 Nanometer genau abbilden und den Forschern die Möglichkeit bieten, Teile im Detail zu analysieren.